OSTEC bietet den modularen Aufbau von NIOS-Systemen, der es Endbenutzern ermöglicht, einen nanomechanischen Tester speziell für ihre Bedürfnisse und Anforderungen zu konfigurieren. Konfigurationen von NIOS nanomechanischen Testern können aus den folgenden Modulen bestehen:
- Weitbereichs-Nanoindenter
- Optisches Mikroskop
- Rasterkraftmikroskop
- Abtastender nanomechanischer Tester
- Messung elektrischer Eigenschaften
- Lateralkraft-Sensor
- In-situ-Topographie-Bildgebung
- Heizphase
- Konfokales optisches Profilgerät
NIOS Compact ist für die Erforschung der mechanischen Eigenschaften von Oberflächen kleiner Proben ausgelegt. Dieses Gerät verwendet die Methoden der Rastersondenmikroskopie, der instrumentierten Eindringung und des Ritzens mit einem Lastbereich bis zu 100 mN. Dieses Modell ist für die Untersuchung physikalischer und mechanischer Eigenschaften im Submikron- und Nanometerbereich bestimmt
Alle NIOS-Messungen werden in einer offenen Umgebung (d.h. ohne den Einsatz von speziellem Vakuum oder Wärmebehandlung) durchgeführt. Die NIOS-Instrumente sind mit Merkmalen und Funktionalitäten ausgestattet, die ihren Einsatz für Forschung und industrielle Anwendungen ermöglichen.
---