Analysesoftware Discover® Defect
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Analysesoftware - Discover® Defect - Onto Innovation Inc. - Überwachung / Reporting / Inspektion
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Eigenschaften

Funktion
Analyse, Überwachung, Reporting, Inspektion, Messtechnik, für Anomalieerkennung, zum Kistenverpacken
Anwendung
Prozess, Alarm, für die Verpackungsindustrie, für Messungen auf LED
Typ
Echtzeit

Beschreibung

Discover® Defect Software bietet durch seine intelligenten Echtzeit-Analysetechniken einen umsetzbaren Wert für Rohdaten. Inline-Überwachung, -Alarmierung und -Berichterstellung sind bei allen Inspektionstools Standard, ebenso wie die Offline-Analyse in der gesamten Fertigung mit allen lizenzierten Tools von Drittanbietern. Produktübersicht Discover Defect Software, früher bekannt als Discover Enterprise Software, ist eine Softwarelösung, die sich leicht in die Produktionsumgebung integrieren lässt. Discover Defect Software führt alle relevanten Informationen aus der Fertigung, einschließlich Defekt-, Sortier-, Mess-, Wisch- und Elektrodaten, flexibel in einer einzigen Big-Data-fähigen Lösung zusammen. Geschwindigkeit und Betriebszeit sind Weltklasse. Discover Defect Software wird sich immer wieder auszahlen, da die Benutzer in der Lage sind, Probleme schnell und genau zu identifizieren und zu lösen sowie bekannte Problembereiche zu überwachen und zu melden. Das Produkt wurde entwickelt, um sowohl den Durchsatz als auch den Ertrag zu verbessern und gleichzeitig die Herstellungskosten zu senken. Erweitern Sie Ihre Möglichkeiten zur Ertragsanalyse mit der Leistungsfähigkeit des Discover Yield Softwaremoduls. Die patentierten Data-Mining-Funktionen von Discover Yield und die fortschrittliche statistische Analyse ermöglichen eine hochentwickelte, interaktive Ursachenanalyse. Discover Yield Software gibt Ihnen die Möglichkeit, tief in Ihre Daten einzutauchen, um sehr schwer zu identifizierende systemische Prozessprobleme aufzudecken.

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electronica Munich 2026
electronica Munich 2026

10-13 Nov. 2026 Munich (Deutschland) Halle B1 - Stand 652

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