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Optisches Mikroskop MX63 series
LaborInspektionzur online-Wafer-Kontrolle

optisches Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
Labor, Inspektion, zur online-Wafer-Kontrolle
Beobachtungstechnik
Fluoreszenz, Dunkelfeld
Weitere Eigenschaften
modulares, ergonomisch, für Halbleiter, für große Probe, für Wafer
Räumliche Auflösung

1 µm

Beschreibung

Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für die hochwertige Inspektion von Wafern bis 300 mm Größe, Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Proben optimiert. Der modulare Aufbau ermöglicht es Ihnen, die Komponenten auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel zu halten. In Kombination mit der Bildanalysesoftware OLYMPUS Stream kann der gesamte Workflow von der Beobachtung bis zur Berichterstellung vereinfacht werden.

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analytica 2024
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9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 311

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    Wire and Tube 2024
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