Ebenheitsmessmaschine GI20

zur KontrolleHochpräzision

Das GI20 Ebenheitsmessgerät von Logitech bietet eine hochpräzise Ebenheitsmessung, die für geläppte und halbpolierte Oberflächen bis zu 150 mm (6″) Ø geeignet ist. Im Gegensatz zu herkömmlichen Fizeau-Interferometern kann das GI20 für die Messung von nicht reflektierenden Oberflächen verwendet werden, wodurch es sich ideal für die Durchführung von Kontrollen an geläppten und/oder geschliffenen Oberflächen vor dem endgültigen Polieren eignet. Das Interferogramm wird auf einem Bildschirm an der Vorderseite des Geräts angezeigt. Über den HDMI-Anschluss kann eine parallele Anzeige erstellt werden, und die Bilder können auch über den USB-Anschluss zur externen Analyse exportiert werden. Alle Funktionen des Interferometers werden über das Touchscreen-Bedienfeld gesteuert. Interferometrie mit streifendem Einfall Ein Standard-Fizeau-Interferometer arbeitet je nach verwendeter Wellenlänge normalerweise mit einem Streifenabstand von etwa 0,3 µm. Dadurch sind Ebenheitsmessungen oft auf stark reflektierende Materialien beschränkt, die einen ausreichenden Kontrast auf dem Bildschirm bieten. Die sich daraus ergebenden kurzen Abstände zwischen den Streifen erschweren oft die Analyse von "belebten" Bildern. Logitech Interferometer mit streifendem Einfall überwinden solche Probleme durch Reflexion des Laserlichts in einem streifenden Einfallswinkel an der Probenoberfläche. Dieser abgewinkelte Lichtstrahl stellt sicher, dass der Monitor sowohl auf reflektierenden als auch auf nicht reflektierenden Probenoberflächen Streifen anzeigt. Außerdem ermöglicht er eine große sichtbare Apertur von 127 mm x 150 mm (5″ x 6″), so dass Proben mit einem Durchmesser von bis zu 150 mm (6″) genau bewertet werden können. Der 7″-Bildschirm ermöglicht schnelle und genaue Messungen "im Prozess", wobei die Streifenabstände in einem festen Intervall von 2µm angezeigt werden, was einen ausgezeichneten Kontrast bei Oberflächenbeschaffenheiten von polierten Proben bis zu 300nm Ra ergibt.