Optisches Stereomikroskop A60 S
Inspektionfür Halbleiterfür elektronische Bauteile

Optisches Stereomikroskop - A60 S - Leica Microsystems GmbH - Inspektion / für Halbleiter / für elektronische Bauteile
Optisches Stereomikroskop - A60 S - Leica Microsystems GmbH - Inspektion / für Halbleiter / für elektronische Bauteile
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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
Inspektion, für Halbleiter, für elektronische Bauteile, für die Raumfahrtindustrie, für die Automobilindustrie
Konfigurierung
Tisch
Lichtquelle
LED-Beleuchtung
Optionen und Zubehör
Zoom

Beschreibung

Das Stereomikroskop A60 S mit Auslegerstativ ist für Inspektions- und Nachbearbeitungsanwendungen konzipiert. Dieses für den professionellen Einsatz konzipierte Mikroskop verfügt über eine hervorragende Optik und ein flexibles Auslegerstativ, das für unvergleichliche Klarheit und Anpassungsfähigkeit sorgt. Das Auslegerstativ sorgt für eine mühelose Positionierung und macht es zu einem unverzichtbaren Instrument für komplizierte Nachbearbeitungen und detaillierte Inspektionen. Verbessern Sie Ihre Arbeit mit dem A60 S, einem zuverlässigen Stereomikroskop, das sorgfältig entwickelt wurde, um die Effizienz und Genauigkeit in den dynamischen Bereichen der Inspektion und Nachbearbeitung zu verbessern.

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

IMTS 2026
IMTS 2026

14-19 Sep. 2026 Chicago (USA - Illinois) Halle East Level 3 - Stand 134266

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.