Ebenheitsinterferometer SPI, PGI Series

für geschliffene Teile

SPI und PGI - Sichtprüfinterferometer zur visuellen Ebenheitsprüfung von Präzisionsteilen Lamtech Lasermesstechnik bietet Sichtprüfinterferometer für die visuelle Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten (SPI) und polierten (PGI) Oberflächen an. Zur Prüfung werden die Teile einfach auf eine Glasfläche an der Oberseite des SPI oder PGI gelegt. Teil und Lichtbänder werden dann vergrößert auf einem Monitor dargestellt. Hierbei wird die Ebenheit aufgrund der Geradheit, Parallelität und Äquidistanz, der auf dem Monitor dargestellten Interferenzstreifen beurteilt. Die Interferometer eignen sich zur Aufstellung in der Fertigung, direkt neben der Bearbeitungsmaschine. Das Programm INTDOK (mehr) oder ein Videoprinter kann die Dokumentation der Ebenheit ermöglichen. Sichtprüfinterferometer SPI - zur visuelle Ebenheitsprüfung von feinbearbeiteten Oberflächen SPI Sichtprüfgeräte ermöglichen die Prüfung der Ebenheit geläppter, feingeschliffener und polierter Oberflächen. Wie das TOPOS Ebenheitsmessgerät, beruht das SPI Interferometer ebenfalls auf dem Prinzip des schrägen Lichteinfalls. Bei den SPI sind auch bei matteren Teilen Interferenzstreifen sichtbar, ohne dass das Teil zuvor auf einem Poliertisch abgezogen werden muss. SPI Geräte sind mit einem Messfeld von 75mm und 130mm erhältlich. Zusätzlich bieten wir das SPI-xs mit erhöhter Empfindlichkeit an. Die Empfindlichkeit beträgt bis zu 0,3 µm/Streifen, dies entspricht der Empfindlichkeit der Messung mit einem Planglas und einer Helium- oder Natrium-Lampe.