ÜbersichtDie Specim SX25 ist eine Hyperspektralkamera für kurzwelliges Infrarot (SWIR), ausgelegt für Materialanalysen in Forschung, Labor und industriellen Anwendungen. Sie arbeitet im Bereich 960–2500 nm, bietet 640 räumliche Pixel, bis zu 392 wählbare spektrale Bänder mit 8 nm spektraler Auflösung und ein Signal-Rausch-Verhältnis von 1500:1, wodurch eng beieinanderliegende spektrale Merkmale mit hoher spektraler Treue und konsistenter Datenqualität erfasst werden können.
Eigenschaften- Spektraler Bereich 960–2500 nm — SWIR-Abdeckung zur Materialidentifikation
- Bis zu 392 wählbare spektrale Bänder — anpassbare spektrale Abtastung
- Spektrale Auflösung 8 nm — detaillierte spektrale Unterscheidung
- 640 räumliche Pixel — hohe räumliche Auflösung für Imaging
- Signal-Rausch-Verhältnis 1500:1 — verbesserte Erkennung feiner Signaturen
- GigE Vision Schnittstelle — standardisierter Datentransfer und Systemintegration
- Flexible hochwertige Optiken — Objektivoptionen und einstellbarer Arbeitsabstand von Weitfeld bis Makro
- Eingebaute Bildverbesserung — reduziert Nachbearbeitung
- Vereinheitlichte spektrale Kalibrierung — konsistente und vergleichbare Daten zwischen Einheiten
AnwendungenGeeignet für Beschichtungsinspektion, Klassifizierung von Mineralien und Erzen, Lebensmittelqualitätsprüfung und Kontaminationsdetektion, landwirtschaftliche und pharmazeutische Forschung, Analyse von Kulturgut und andere Materialcharakterisierungsaufgaben, die räumliche Genauigkeit und spektrale Detailtreue erfordern.
Technische Daten- Spektraler Bereich: 960–2500 nm
- Räumliche Pixel: 640
- Spektrale Bänder: Bis zu 392 wählbare Bänder
- Spektrale Auflösung: 8 nm
- Signal-Rausch-Verhältnis: 1500:1
- Schnittstelle: GigE Vision
- Optiken: Flexible hochwertige Objektivoptionen; verstellbarer Arbeitsabstand (Weitfeld bis Makro)
- Bildverarbeitung: Eingebaute Bildverbesserung zur Reduzierung der Nachbearbeitung
- Kalibrierung: Vereinheitlichte spektrale Kalibrierung für konsistente Daten zwischen Einheiten