Eindringkörper für Härtetest Nano Indenter® G200X

Der Nano Indenter G200X ist ein einfach zu bedienendes mechanisches Prüfgerät im Nanobereich, das schnell genaue, quantitative Ergebnisse liefert. Das G200X-System umfasst unser leistungsstärkstes Bewegungssystem, das größte Probenhalterungssystem und unser hochauflösendes optisches Mikroskop. Unsere InView-Software, der iQWave2-Controller und die InForce-Aktuatoren liefern in der gesamten Produktreihe die gleichen Hochleistungsergebnisse. Zu den Optionen des G200X-Systems gehören die kontinuierliche Steifigkeitsmessung (CSM), Rastersondenmikroskopie, Kratzprüfung, Frequenzsweeps, elektrische Messungen, Hochgeschwindigkeitsprüfung und Schlagprüfung. Merkmale Elektromagnetischer Aktuator zur Erzielung eines hohen dynamischen Kraft- und Verschiebungsbereichs Hochauflösendes optisches Mikroskop und präzises XYZ-Bewegungssystem zur Betrachtung, Positionierung und Ansteuerung von Proben. Einfach zu montierender Probenteller mit mehreren Probenpositionen für einen hohen Prüfdurchsatz. Modulare Optionen für Prüfungen, die über die Eindringprüfung hinausgehen, wie SPM-Bildgebung, Kratzprüfung, Hochtemperatur-Nanoindentationsmessungen, dynamische Prüfungen (CSM) und Hochgeschwindigkeitsprüfungen. Intuitive Benutzeroberfläche für eine schnelle Testeinrichtung; Testparameter können mit nur wenigen Mausklicks geändert werden Experimentelle Steuerung in Echtzeit, einfache Entwicklung von Testprotokollen und Test-Setup. Komplettes InView-Softwarepaket einschließlich ReviewData und InFocus für die Datenanalyse und Berichterstellung. Preisgekrönte Hochgeschwindigkeitsprüfungen für Materialeigenschaftskarten und erhöhte statistische Sicherheit. iQWave2-Hochgeschwindigkeits-Steuerelektronik mit 100kHz Datenerfassungsrate und 16µs Zeitkonstante. Anwendungen Hochgeschwindigkeitsmessungen von Härte und Modulen (Oliver-Pharr)