Überwachungs-Analysator EA-300

ElementarBenchtopautomatisiert

Mikroskopie und Materialanalyse Einfach. Schnell. Präparationsfrei. Materialanalyse mit einem Klick Keine Probenvorbereitung oder Vakuum nötig Automatische Erkennung von Materialien Neue laserbasierte Materialanalyse-Einheit für Mikroskope der Modellreihe VHX. Legen Sie das Objekt für die Materialanalyse einfach auf den Objekttisch, ohne vorherige Präparation. Leitfähigkeitsbearbeitung, Zuschneiden des Objekts, sowie Vakuum sind nicht notwendig. KI-basierte Vorschläge ermöglichen es auch unerfahrenen Anwendern, Substanzen mittels einer einfachen und schnellen Materialanalyse zu erkennen. Erkennen von Substanzen direkt von Ihrem Mikroskop aus Platzieren und analysieren Eine Materialanalyse ist mit nur einem Klick möglich. Anwender können problemlos von Mikroskopiefunktionen zur Materialanalyse wechseln, ohne das Laserobjektiv neu ausrichten oder fokussieren zu müssen. Keine Probenvorbereitung oder Vakuum nötig Objekte können unabhängig von ihrer Größe zerstörungsfrei und ohne Vorbereitung analysiert werden. Für die Analyse sind weder Leitfähigkeitsbehandlung noch Vakuum erforderlich. Automatische Erkennung von Materialien Die erkannten Elemente werden analysiert. Eine eingebaute KI-Funktion schlägt das am wahrscheinlichsten erkannte Material vor. Die Datenbank kann auch verwendet werden, um frühere interne Analyseergebnisse als Referenz abzurufen, wenn ähnliche Fremdpartikel e