Laser-Profilometer VK-X4000

optisch3DKonfokal

Übersicht
Die VK-X4000-Serie ist ein 3D-optisches Profilmikroskop, das Laser-Confokal, Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariation in einer Metrologieplattform vereint und berührungslose, hochpräzise Messungen von Oberflächen und Topographien ermöglicht. Das System unterstützt automatisierte Mehrpunkt-Routinen und die Erkennung mehrerer Merkmale zur Steigerung des Durchsatzes bei geringem Einrichtungsaufwand.

Hauptmerkmale

• Drei Messprinzipien in einem Gerät: Laser-Confokal, WLI und Fokusvariation für breite Material- und Geometrieabdeckung.
• Automatisierte Mehrpunktmessung: Zielkoordinaten und Vergrößerungen festlegen für unbeaufsichtigte Chargenmessungen.
• Automatische Mehrmerkmalmessung: Zielmerkmale erkennen und Messbedingungen automatisch anwenden für konsistente Ergebnisse.
• AI-Analyzer: bewertet Dutzende Oberflächenparameter und hebt die Metriken hervor, die Proben am besten unterscheiden, zur Beschleunigung der Analyse.
• Hohe Vielseitigkeit: geeignet für Metalle, Folien, Kunststoffe, Halbleiter, medizinische Bauteile und weitere Materialien.

Messprinzipien und Stärken

• Laser-Confokal: geeignet für komplexe Formen und unterschiedliche Materialien, liefert lokalisierte 3D-Daten bei schwierigen Geometrien.
• Weißlichtinterferometrie (WLI): bietet subnanometrische vertikale Auflösung für sehr feine Oberflächendetails und präzise Dickenmessungen.
• Fokusvariation: erfasst feine Texturen über größere Flächen und ergänzt andere Methoden, wenn Transparenz oder Neigung die Leistung einschränken.

Mehrpunkt-/Automatisierte Messung

• Mehrere Messpunkte durch Zielauswahl konfigurieren; das System übernimmt Positionierung und Objektivwahl automatisch.
• Chargenmessungen über mehrere Proben und Bereiche ohne wiederholte manuelle Einrichtung durchführen, wodurch Zykluszeiten und Bedienerstreuung verringert werden.

AI-Analyzer / Rauheitsanalyse
Der AI-Analyzer vergleicht zahlreiche Oberflächenparameter (z. B. Ra, Rz und ISO-Standardmetriken), um zu ermitteln, welche Parameter Probenunterschiede am deutlichsten darstellen, und vereinfacht so die Auswahl geeigneter Rauheitskennwerte und die Interpretation der Ergebnisse.

Anwendungen & Vorteile

• 3D-Oberflächenprofilierung und Rauheitsanalyse für Elektronik, Präzisionsfertigung, Folien und Beschichtungen, Medizinprodukte, Kunststoffe u. a.
• Ermöglicht inspections mit hohem Durchsatz durch reproduzierbare, automatisierte Routinen für Qualitätskontrolle und Vergleichsstudien.
• Kombiniert komplementäre Messmethoden zur Bewältigung nahezu jeder Oberfläche — von glatten Folien bis zu rauen, komplexen Geometrien.

Technische Daten

• Handelsbezeichnung: VK-X4000 series
• Messprinzipien: Laser-Confokal, Weißlichtinterferometrie (WLI), Fokusvariation
• WLI-vertikale Auflösung: subnanometrisch (für sehr feine Oberflächendetails)
• Mehrpunktmessung: automatisierte Koordinatenauswahl und Chargenmessung über Proben
• AI-Analyzer: automatischer Vergleich mehrerer Oberflächenparameter zur Erkennung wesentlicher Unterschiede
• Automatisierte Mehrmerkmalmessung: automatische Anwendung von Messbedingungen auf erkannte Merkmale
• Geeignete Materialien: Metalle, Folien, Kunststoffe, Halbleiterbauteile, medizinische Teile usw.
• Hauptanwendungsfälle: 3D-Oberflächenprofilierung, Rauheitsanalyse, Filmdickenbewertung, vergleichende Oberflächenanalyse, automatisierte Inspektion mit hohem Durchsatz