Optisches Pyrometer CellaWafer PA 38
digital°C°F

Optisches Pyrometer - CellaWafer PA 38 - Keller Pyrometer Systems - digital / °C / °F
Optisches Pyrometer - CellaWafer PA 38 - Keller Pyrometer Systems - digital / °C / °F
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Eigenschaften

Technologie
optisch
Anzeige
digital
Maßeinheit
°C, °F
Kommunikation
USB
Konfiguration
stationär
Anwendung
für Metall, für Halbleiter
Weitere Eigenschaften
Edelstahl, Präzision
Temperatur

Max: 1.800 °C
(3.272 °F)

Min: 450 °C
(842 °F)

Spektralbereich

0,88 µm

Reaktionszeit

2 ms, 50 ms

Beschreibung

Produktübersicht:
Das CellaWafer PA 38 ist ein digitales Pyrometer zur berührungslosen Temperaturmessung an Wafern und Metallen im Bereich 450–1800 °C. Die sehr kurzwellige, schmalbandige Spektralantwort macht es besonders geeignet für Silizium‑Wafer‑Prozesse (z. B. RTP) und Metalle wie Wolfram und Molybdän. Die Auslegung reduziert die Empfindlichkeit gegenüber Emissionsgradänderungen und liefert stabilere Messwerte in Produktionsumgebungen.

Besondere Merkmale:
  • Messbereich 450 bis 1800 °C
  • Fokussierbare Wechseloptiken für präzise Einstellung der Messentfernung
  • Breitbandentspiegelte Präzisionsoptiken
  • Kurzwelliger, schmalbandiger Spektralbereich (0,88 µm)
  • Optimiert für präzise Messungen an Silizium‑Wafern und Metallen
  • 4‑stelliges LED‑Display, aus großer Entfernung ablesbar
  • Teststromausgang für Diagnosefunktionen
  • Standardmäßig: Analogausgang sowie USB und RS‑485


Wählbare Eigenschaften / typische Konfiguration:
  • Messbereich: 450 – 1800 °C
  • Fokussierungsdistanzen (Beispiele): 0,3 m – ∞ (objektivabhängig)
  • Visieroptionen: Durch‑das‑Objektiv‑Visierung / integrierte Videokamera / Laser‑Pilotlicht
  • Beispielversion: CellaWafer PA 38 AF 10


Lieferumfang (typisch):
  • Pyrometer CellaWafer PA 38
  • Anschlusskabel VK 02/A (5 m)
  • Videokabel VK 02/F (5 m) für Modelle mit eingebauter Kamera
  • USB‑Kabel VK 11/D (1,8 m)
  • Software CellaView
  • Kurzhandbuch


Hinweise / Werkzeuge auf der Produktseite:
  • Messfeldrechner (Beispiele Messfelddurchmesser vs. Abstand)
  • Emissionsgrad‑Rechner und Funktionen zur Einstellung des Emissionsgrades
  • Video‑Demonstration der Kamera‑Funktion


Technische Daten (Auswahl):
  • Artikel‑Nr.: 1124957
  • PGB‑Nr.: 500
  • Messprinzip: Einfarbig (one‑colour)
  • Messbereich: 450 – 1800 °C
  • Spektralbereich: 0,88 µm
  • Sensor: Photodiode
  • Ansprechzeit t98: ≤ 50 ms (T > 650 °C); ≤ 2 ms (T > 850 °C)
  • Messunsicherheit: 0,3 % des Messwerts, min. 4 K
  • Wiederholgenauigkeit: 1 K
  • Abstand‑Verhältnis (D:S): 60 : 1
  • Form des Messfelds: rund
  • Beispielobjektiv: PA 20.08 (z. B. F50 PZ 20.08 — Fokus 0,3 m – ∞)
  • Analogausgang: 0(4) – 20 mA, linear, schaltbar, skalierbar; R ≤ 500 Ω
  • Analogeingang: 0 – 10 V
  • Schaltausgänge: 2 × Open Collector 24 V DC, ≤ 30 mA
  • Schalteingänge: 2 × bis 24 V
  • Schnittstellen: USB, RS‑485
  • Versorgung: 24 V DC (+10 % / −20 %); Stromaufnahme ≤ 175 mA
  • Videoausgang (Kamera‑Option): Composite PAL
  • Anzeige: 4‑stelliges rotes LED‑Display, Ziffernhöhe 8 mm; Statusanzeige: 2 × LED; Bedienung: 3 Tasten
  • Anschluss: M12, 8‑polig
  • Umgebungstemperatur (Betrieb): 0 – 65 °C; Lagerung: −20 – +80 °C
  • Zulässige Luftfeuchte: max. 95 % r.H. (ohne Kondensation)
  • Gehäuse: Edelstahl V2A (1.4305); Schutzart: IP65
  • Abmessungen: Ø 65 mm × 220 mm (max. 277 mm); Gewicht: ca. 0,9 kg
  • Einstellbare Parameter (Beispiele): Messbereich, Analoge I/O‑Skalierung, Glättungsfilter, Emissivität/Transmissivität, Kompensation reflektierter Umgebungsstrahlung, Alarmgrenzen, Linearisation, LED‑Verhalten, Simulationsfunktionen, Einheit °C/°F; Kamera‑Modelle: TBC, Weißabgleich
  • Funktionen (Beispiele): Übertemperatur‑Signal (Analogausgang > 20,5 mA bei Innen‑Temp. > 80 °C), Service‑Wert‑Simulation, ATD (Automatische Temperaturdetektion) für diskontinuierliche Prozesse
  • Software: CellaView

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

HärtereiPraxis 2026
HärtereiPraxis 2026

22-24 Juni 2026 Kamp-Lintfort im Wellings Parkhotel (Deutschland)

Shenzhen International Semiconductor & IC Exhibition
Shenzhen International Semiconductor & IC Exhibition

9-11 Sep. 2026 Shenzhen (China)

* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.