Temperaturüberwachungssystem E-LIT

MessInfrarotkameraHochleistung

Elektronik- und Halbleitermodulprüfung E-LIT * Analyse von Elektronik- und Halbleiterbauelementen * Modularer Messplatz für Online Lock-In-Messungen * Zuverlässige Erkennung von thermischen Auffälligkeiten im mK- und μK-Bereich * Räumliche Lokalisierung von Defekten in mehrlagigen Leiterplatten und Multi-Chip-Modulen * Nutzung von Thermografiesystemen mit gekühlten und ungekühlten Detektoren * Bediensoftware IRBIS® 3 active mit umfangreichen Analysemöglichkeiten unter Laborbedingungen Das automatisierte Prüfsystem E-LIT erlaubt bereits während des Herstellungsprozesses eine berührungslose Fehlerinspektion an Halbleitermaterialien. Ungleichmäßige Temperaturverteilungen und lokale Energieverluste können mittels des speziellen Lock-In-Verfahrens und einer leistungsfähigen Thermografiekamera in kürzesten Prüfzeiten detektiert werden. Die Stromversorgung ist für diesen Prozess mit einem Synchronisationsmodul getaktet. Sogar Fehler, die lediglich mK- oder μK-Abweichungen hervorrufen, können verlässlich detektiert werden. Kleinste Defekte, wie Punkt- und Linienkurzschlüsse, Oxidations-, Transistor- und Diodenfehler auf einer Leiterplattenoberfläche sowie in Schaltkreisen können exakt zweidimensional detektiert und dargestellt werden. Durch eine Veränderung der Lock-In-Frequenz lassen sich Fehler in Stacked-Die-Packages oder Multi-Chip-Modulen sogar räumlich lokalisieren. Vorteile des modularen Messplatzes - Online Lock-In-Messung mit höchster Empfindlichkeit - Vollständige und präzise mikroskopische Analyse - Geometrische Auflösung bis zu 1,3 μm mit Mikroskopobjektiven - Thermische Auflösung im Mikrokelvinbereich - Mehrschichten-Analyse