Isolationstester 1232

DurchgangNiederohmfür Steckkarte

LEITERPLATTEN-TESTER 1232 Hochpräzises Chargenprüfsystem, das Leiterplatten mit eingebetteten passiven und aktiven Bauelementen unterstützt Übersicht Der 1232 ist ein Leiterplatten-Tester, der das gesamte Spektrum von Hiokis In-Circuit-Testtechnologien nutzt, um LSI-Zuverlässigkeitstests, komplexe Komponententrennungstests, Hochdurchgangs- und Isolationstests und vieles mehr durchzuführen. Hauptmerkmale - (Beidseitige Ausrichtung)Prüfbare Plattenabmessungen: 50 × 50 bis 330 × 330 mm (einschließlich Klemmbereich) - Die Unterstützung für Aufbau-Platinen, die einen Widerstand erfordern, garantiert die Kombination der von SIM-LINE erzeugten theoretischen Widerstandswerte mit hochpräziser Widerstandsmessung mit 4 Anschlüssen, um die Zuverlässigkeit der Muster zu gewährleisten - Unterstützung für Leiterplatten mit eingebetteten passiven und aktiven Bauelementen dank der in Verbindung mit Hioki In-Circuit-Testern entwickelten Messkompetenz - Unterstützung für CSP/CPU-Vierteltafelplatten mit großer Arbeitsfläche von 340 × 330 mm - Unterstützung für flexible Tafeln: Modell 1232-11 unterstützt dünne Platten bis hinunter zu 0,05 mm. Spannklemmen können selbst flexible Platten stabil befestigen Übersicht der Spezifikationen Maximale Anzahl der Stifte - jeweils 4.096 Stifte oben und unten (einschließlich eines standardmäßigen 4.096-poligen One-Touch-Steckverbinders) Anzahl der Prüfschritte - Max. 10,000 Zykluszeit - Messung bei 0,330 Sek./Stück (210 μsec. Kontinuität × 1.024, 115 msec. Isolation) (*2.048 Endpunkte und 1.024 Netze pro Stück) Mindest-Paddurchmesser - φ 10 μm Abmessungen von klemmbaren/transportierbaren Platten - Dicke: 0,05 bis 2,5 mm (Nicht alle Dicken werden unterstützt; wenden Sie sich an HIOKI für weitere Informationen zum Testen von dünnen Platten)