Optisches Polarimeter Exicor 150XT

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Hinds Instruments stellt das neueste und fortschrittlichste Mueller-Matrix-Polarimetersystem für anspruchsvolle Forschungs- und industrielle Prozessanwendungen vor, die eine extrem hohe Empfindlichkeit und Wiederholbarkeit bei der Unterscheidung spezifischer, schwacher Mueller-Matrix-Elemente erfordern. Das neue Exicor®XT Serie 4 PEM Mueller Polarimeter System, das von unserer Anwendungsforschungsgruppe in einem gemeinsamen Projekt mit der Kahr Gruppe der NYU entwickelt wurde, hat erstklassige Lösungen für führende Kunden in der Optikforschung, Kristallforschung, Flachbildschirm- und optischen Lithographieanwendungen geliefert. Dazu gehören Anwendungen, die die Messung von: √ Alle 16 Elemente der Mueller-Matrix √ Geringe lineare und zirkuläre Verzögerung, mit minimaler Interaktion zwischen ihnen √ Alle 6 Polarisationsparameter (lineare Verzögerung - Betrag und Winkel; zirkulare Verzögerung - Betrag; lineare Dämpfung - Betrag und Winkel; und zirkulare Dämpfung - Betrag) von DUV-Licht, mit minimaler Wechselwirkung zwischen ihnen. √ Lineare und zirkuläre Retardierung, wobei eine signifikante Wechselwirkung zwischen ihnen besteht. Merkmale: gleichzeitige Messung aller 16 Elemente der Mueller-Matrix -Bestimmung aller Polarisationsparameter und Schätzung der Depolarisation -Höchste verfügbare Empfindlichkeit -Wiederholbarkeit auf Laborniveau -Anpassung für Polarisationseigenschaften von Interesse auf Anfrage erhältlich -Minimale Wellenlängenbeschränkungen (DUV bis IR) -Normaler und schräger Einfallswinkel möglich boden- oder Tischgerät, mit flexiblen Tischen zum Hinzufügen kundenspezifischer Teilehalter -Messzykluszeiten, die für Produktionsprozesse geeignet sind -Softwarepakete mit umfangreichen Datenanalysefunktionen