Mikroskop-Objektiv / für die industrielle Bildverarbeitung LMPLFLN series

Inspektionapochromatisch

Unser LMPLFLN-Objektiv gehört zu unserer Plan Semi-Apochromat-Serie und bietet längere Arbeitsabstände für mehr Sicherheit bei der Betrachtung von Proben und einen höheren Kontrast. Langer Arbeitsabstand M Plan Semi-Apochromat - LMPLFLN - Objektive für Hellfeld, Differentiellen Interferenzkontrast (DIC), Fluoreszenz und einfach polarisiertes Licht - Ein längerer Arbeitsabstand schützt Proben mit Topographie - Standard-Pupillenposition ermöglicht die Verwendung eines einzigen DIC-Prismas für alle Objektive (5x-100x) Spezifikationen Vergrößerung [X]: 5 Numerische Apertur (NA): 0,13 Arbeitsabstand (WD) [mm]: 22,5 Objektivfeldzahl: 26.5 Immersionsmedium: Luft/Trocken Federbelastet: N/A Korrekturring: K.A Korrekturbereich des Korrekturkragens: N/A Blende: K.A Korrekturniveau der chromatischen Aberration Semi-apochromatisch (FL) Parfokalisierender Abstand [mm]: 45 Position der hinteren Brennebene (BFP): -3,0 Typ des Schraubgewindes: W20.32X0.706(RMS) Hellfeld(Reflektiert): Gut Hellfeld(Transmittiert): Gut Dunkelfeld(Reflektiert): N/A Dunkelfeld(Durchlicht): N/A DIC(Reflektiert): Gut DIC(Durchlicht): N/A Phasenkontrast: N/A Relief-Kontrast: N/A Polarisiertes Licht: Begrenzung Fluoreszenz (B-, G-Anregung): N/A UV-Fluoreszenz (bei 365nm): N/A Multiphotonen: N/A TIRF: K.A IR: K.A WLI: K.A Autofokus: Gut