Hochauflösendes Laserstrahl-Analysegerät Beam Profiler 4M

Kamera

Übersicht
Die Strahlprofilometer von Edmund Optics® messen einen breiten Bereich von Laserstrahlgrößen und liefern Daten zur Optimierung von Lasersystemen. Sie kombinieren hochauflösende und großflächige Sensoren, um präzise Profile kleiner und großer Strahlen zu ermöglichen. Die Geräte sind in mehreren Sensorausführungen erhältlich und mit einer 1" x 32 TPI Gewindeschnittstelle (C‑Mount) für die optische Integration ausgestattet. Ein externer Triggereingang ermöglicht die Synchronisation mit gepulsten Lasern; USB 2.0/3.0 Schnittstellen sorgen für schnelle Datenübertragung.

Hauptmerkmale

• Hochauflösende Sensoren für präzise Messungen kleiner Strahlen
• Großflächige Sensoroptionen für größere Strahlen
• Externer Triggereingang zur Synchronisation mit gepulsten Lasern
• Kompatibilität mit USB 2.0 und USB 3.0
• Gewinde 1" x 32 TPI (C‑Mount) für Standardoptikmontage
• Inklusive Analyse-Software mit 2D-, 3D- und XY-Darstellungen
• Softwarewerkzeuge: Hintergrundsubtraktion und Gaußanpassung

Produktdetails (Beispiel: Edmund Optics Beam Profiler 4M)
Wellenlängenbereich (nm): 350 - 1150
Eingangsstrahl-Anforderungen: Mind. 55 μm (10 x 10 Pixel)
Detektionsfläche H x V (mm): 11.3 x 11.3
Software: USB inklusive; Analyse-Software mit 2D/3D/XY-Darstellungen, Hintergrundsubtraktion und Gaußanpassung

Hinweise
Software-Treiber sind beim Hersteller zum Download verfügbar. Produkte sind mit LabVIEW kompatibel.

Technische Daten

• Wellenlängenbereich (Beispielmodell): 350–1150 nm
• Minimal messbare Strahlgröße (Beispiel): ~55 μm (10 x 10 Pixel)
• Detektionsfläche (Beispiel): 11.3 x 11.3 mm
• Montage: 1" x 32 TPI Gewinde (C‑Mount kompatibel)
• Trigger: Externer Triggereingang für gepulste Laser
• Schnittstelle: Unterstützung für USB 2.0 und USB 3.0
• Software: Analyse mit 2D/3D/XY-Darstellungen, Hintergrundsubtraktion, Gaußanpassung
• Verfügbare Größen: Mehrere Sensorausführungen zur Abdeckung kleiner bis großer Strahlen