Automatische Prüfanlage S500 BTE

für Leiterplatten

Das S500 Prüfstands-Testgerät (BTE) wurde speziell für den Test der Line Replaceable Unit (LRU) entwickelt, um die defekte Lowest Level Replaceable Unit (LLRU) zu bestimmen. Sobald eine fehlerhafte LLRU entdeckt wurde, wird ein separates Anwendungsprogramm ausgeführt, das speziell für die LLRU entwickelt wurde, um den Fehler weiter zu isolieren. Das S500 kann Leiterplatten (PCBs) zu einer bestimmten Mehrdeutigkeitsgruppe durch den Einsatz von bedienerunterstützten Prüfpunkten diagnostisch testen. Das S500-Testsystem kann auch Testdaten exportieren, die von einem separaten Diagnose HdO verwendet werden, wie beispielsweise dem PinPoint-Testsystem. Die Basis S500 beinhaltet ein 19-Zoll-Rackgehäuse, das kommerziell erhältliche Hardware einschließlich eines Industrie-PCs, Peripheriekomponenten-Verbindungserweiterungen für Instrumentierung (PXI) Chassis für National Instruments (NI) Testressourcen, Netzteile und einen Testkopfempfänger. Die für die Automatisierung des Prüfprozesses und die Auswertung der Ergebnisse erforderlichen Software- und Systemsteuerungen werden auf dem internen PC gespeichert. Die Geräte werden von Anwendungsprogrammen gesteuert, um Signale anzulegen und Messungen am Prüfling (UUT) durchzuführen. Alle notwendigen Testsignale stehen am Prüfkopf zur Verfügung und werden über einen Interface Test Adapter (ITA) mit dem Prüfling verbunden. Der Zugriff auf Anwendungsprogramme und deren Ausführung erfolgt über die Diagnosys Executive Software (ES). Die ES-Benutzeroberfläche ist eine grafische Benutzeroberfläche (GUI) mit gängigen Windows-Betriebssystem-Menüs und Funktionen mit einfacher Eingabemöglichkeit für neue Benutzer.