Leistungsfähigkeitstestsystem VIP EXTENDED

Impedanzfür Forschung und Entwicklungfür die Raumfahrtindustrie

Übersicht
VIP Extended ist ein konfigurierbares Automatic Test Equipment (ATE) System für parallele Prüfungen von Silizium-, SiC- und GaN-Leistungsbauelementen. Entwickelt für Wafer Sort, Strip Test, Pick & Place und Gravity Handler-Umgebungen, unterstützt es bis zu 48 parallele Prüfstellen zur Steigerung des Durchsatzes und zur Senkung der Prüfkosten.

Hauptmerkmale

• Konfigurierbares ATE für Niederspannungs- und Leistungsprodukte (Driver-ICs, IGBT, Power MOSFETs, Power ICs)
• Bis zu 48 parallele Prüfstellen für hohe UPH
• Hohe Ressourcendichte und modulare Architektur für flexible Produktionslinienintegration
• Integrierte präzise Messinstrumente: TMU, Picoamperemeter, LCR-Meter, PPMUs und Hochstrom-Sink/Source-Module

Vorteile

• Optimiert für Wafer Sort und Strip Test Workflows
• Parallele Messung von Rg, Cg und UIS über bis zu 48 Prüfstellen
• Reduzierte Testkosten (COT) durch hohe Kanal­dichte und modulare Optionen

FUNKTIONEN — VIP Extended
D×B×H: 640 mm × 600 mm × 350 mm
DCS MP: 48 channels, ±80 V @ ±4 A
Hochspannungsversorgung (std): 80 V / 250 A (48 Stellen)
Load Prog Modul: bis zu 48 Hochstrom‑Sink/Source‑Kanäle bis 250 A / 80 V + TMU & Differenzmessschaltungen
Digitalkanäle: bis zu 320 Digitalkanäle; bis zu 64 PPMU
Floating Digital Driver: bis zu 48 Treiber, Bereich -5 V bis 18 V
Induktive & resistive Lasten: kundenspezifische Board‑Implementierungen
LCR‑Meter: bis zu 48
Picoammeter: bis zu 48 Picoammeter; Strombereich 2 nA–2 µA, Genauigkeit bis ±20 pA
Timing‑Messungen: 48‑kanaliges TMU
Zusätzliche Instrumente: bis zu 64 PPMU, 48 Picoammeter, bis zu 48 LCR‑Meter, induktive/resistive Last‑Boards
Gehäuse: kompaktes Gehäuse geeignet für Produktionslinien (350 × 600 × 640 mm)

Anwendungen

• Wafer Sort
• Strip Test
• Pick & Place Integration
• Gravity Handler Umgebungen
• Märkte: Automobil, Consumer, Industrie, Luft‑ und Raumfahrt und MEMS

Technische Spezifikationen

• Parallele Prüfstellen: bis zu 48
• Vier‑Quadranten DC Ressourcen: bis zu 48 Einheiten, ±80 V, ±4 A
• Hochspannungsversorgung (Standard): 80 V / 250 A (48 Stellen)
• Hochstrom Sink/Source Kanäle: bis zu 48 Kanäle, bis zu 250 A / 80 V
• TMU: 48‑kanalige Timing‑Mess­einheit
• Digitale Ressourcen: bis zu 320 Digitalkanäle; 2 M Vektor‑Pattern‑Speicher
• PPMU: bis zu 64 programmierbare parametrierbare Mess‑Einheiten
• Floating Digital Driver: bis zu 48, Bereich -5 V bis 18 V
• LCR‑Meter: bis zu 48
• Picoammeter: bis zu 48, Strombereich 2 nA–2 µA, Genauigkeit bis ±20 pA
• Induktive & resistive Lasten: kundenspezifische Board‑Implementierungen
• Gehäuseabmessungen: 350 × 600 × 640 mm (kompakt für Produktionsintegration)