Blaze ist die neueste Inspektionslösung von CIMS, die das Herzstück der Halbleiterinspektion bildet und unsere neuesten Inspektionslösungen für die Segmente Verpackung und Mikroelektronik unterstützt.
Die einzigartigen Funktionen von Blaze™ ermöglichen eine äußerst zuverlässige Inspektion einer breiten Palette fortschrittlicher Mikroelektronikprodukte, eine vollständige Datenintegration mit anderen Prozessen sowie die Kompatibilität mit verschiedenen fortschrittlichen Datenaustauschprotokollen, die in der Halbleiterindustrie üblich sind.
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