Bi-telezentrisches Mikroskop-Objektiv TC65 series

für industrielle Nutzungzur Detektion von Halbleiterschaltungenfür die Objektinspektion

TELEZENTRISCHES OBJEKTIV MIT VARIABLER VERGRÖSSERUNG Keine Änderung des Arbeitsabstandes erforderlich, die Vergrößerung kann stufenlos von 0,5x bis 2,0x eingestellt werden Bi-telezentrisches optisches Design, Telezentrizität ist ≤0,05° im vollen Vergrößerungsbereich Weit verbreitet in der Elektronik-, Halbleiter- und anderen Hochpräzisionsindustrien ANWENDUNG Flüssigkristall, Halbleiter, andere Position/Wackeligkeit Positionierung von Glasplatinen Elektronische Geräte Geometrische Messung D-Cut-Gravur Drehwinkel der Linse Elektronische Teile Position/Wackeligkeit Überprüfung des Drahtdefekts des Kondensators Kraftfahrzeug Defekt/Fleck Prüfen Sie die Schneidhaftung des Kolbens