ZEISS Xradia 610 und 620 Versa
3D-Röntgenmikroskope für schnellere Bildgebung intakter Proben im Sub-Mikrometerbereich
Wenn aus einer Forschungsaufgabe eine Entdeckungsreise wird.
Nutzen Sie eine nie dagewesene Vielseitigkeit für Ihre wissenschaftliche und industrielle Forschung mit den modernsten 3D-Röntgenmikroskopen der Xradia Versa-Produktfamilie von ZEISS.
Mit der branchenweit besten Auflösung und exzellentem Kontrast erweitern die Xradia-Modelle 610 und 620 Versa von ZEISS Ihre Möglichkeiten in der zerstörungsfreien Bildgebung im Sub-Mikrometerbereich.
Highlights
Erweitert die Grenzen von CT-Lösungen im Mikro- und Nanometerbereich
Zerstörungsfreie Mikroskopie intakter Proben im Sub-Mikrometerbereich
Höherer Fluss und schnellere Scans ohne Kompromisse bei der Auflösung
Echte räumliche Auflösung von 500 nm mit einer erreichbaren minimalen Voxelgröße von 40 nm
Hohe Auflösung über ein breites Spektrum an Probenarten, -größen und Arbeitsabständen
In-situ-Bildgebung für zerstörungsfreie Charakterisierung der Mikrostrukturen in kontrollierten Umgebungen und im zeitlichen Verlauf
Aufrüstbar und erweiterbar mit künftigen Innovationen und Entwicklungen