SEM-Mikroskop ZEISS SIGMA

für AnalyseDigitalkamera

Kombinieren Sie Feldemissions-REM (FE-REM)-Technologie mit erweiterten Analysen. Profitieren Sie von der bewährten Gemini-Elektronenoptik. Wählen Sie aus einer Vielzahl von Detektoroptionen: Sie können Partikel, Oberflächen und Nanostrukturen abbilden. Sparen Sie Zeit mit dem halbautomatischen 4-Schritte-Workflow von Sigma: Strukturieren Sie Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen und steigern Sie die Produktivität. Sigma 300 bietet ein ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis. Führen Sie Ihre Elementaranalyse schnell und komfortabel mit der klassenbesten EDS-Geometrie des Sigma 500 durch. Stützen Sie sich auf präzise, reproduzierbare Resultate – von jeder Probe, jederzeit.