Extreme Forschungssysteme für Nanomechanik, Nanoelektrik und Nanoelektrochemie
In den Dimension XR Rastersondenmikroskop-Systemen (SPM) von Bruker stecken Jahrzehnte der Forschung und technologischen Innovation. Mit routinemäßiger atomarer Defektauflösung und einer Vielzahl einzigartiger Technologien wie PeakForce Tapping®, DataCube-Modi, SECM und AFM-nDMA bieten sie ein Höchstmaß an Leistung und Leistungsfähigkeit. Die SPMs der Dimension XR-Familie vereinen diese Technologien in schlüsselfertigen Lösungen für nanomechanische, nanoelektrische und elektrochemische Anwendungen. Die Quantifizierung von Materialien und aktiven nanoskaligen Systemen in Luft, Flüssigkeiten, elektrischen oder chemisch reaktiven Umgebungen war noch nie so einfach.
Hyperspektrale
nanoelektrische Charakterisierung
Umfasst das umfassendste Angebot an elektrischen AFM-Techniken für die Charakterisierung von Funktionsmaterialien, Halbleitern und Energieforschung.
Sub-100nm
elektrochemische Bildgebung
Bietet die höchstauflösende Komplettlösung für die quantitative Analyse lokaler elektrochemischer Aktivitäten in Verbindung mit Batterien, Brennstoffzellen und Korrosion.
Sofort einsatzbereit
nanomechanische Analyse
Bietet eine vollständig quantitative, schlüsselfertige Suite von Techniken zur Korrelation von Struktur und nanomechanischen Eigenschaften von Materialien.
ERMÖGLICHT ERSTE UND EINZIGE AFM-FUNKTIONEN MIT HÖCHSTER LEISTUNG
Optimierte Konfigurationen für die Spitzenforschung
XR Nanomechanik
XR Nanomechanics bietet eine Reihe von Modi zur umfassenden Erfassung kleinster Strukturen mit räumlicher Auflösung bis hin zu submolekularen Einheiten von Polymerketten. Mit unserem proprietären AFM-nDMA™-Modus können Forscher Nanomechanik-Daten mit Bulk-DMA- und Nanoidentifizierungsmethoden korrelieren.
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