Rastersondenmikroskop Dimension XR
für ForschungszweckeMessNanoskop

Rastersondenmikroskop
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Eigenschaften

Typ
Rastersonden
Anwendungsbereich
für Forschungszwecke, Mess
Beobachtungstechnik
Nanoskop
Weitere Eigenschaften
hochauflösend, SPM, für Halbleiter, für die Nanotechnik
Räumliche Auflösung

Max: 100 nm

Min: 0 nm

Beschreibung

Extreme Forschungssysteme für Nanomechanik, Nanoelektrik und Nanoelektrochemie In den Dimension XR Rastersondenmikroskop-Systemen (SPM) von Bruker stecken Jahrzehnte der Forschung und technologischen Innovation. Mit routinemäßiger atomarer Defektauflösung und einer Vielzahl einzigartiger Technologien wie PeakForce Tapping®, DataCube-Modi, SECM und AFM-nDMA bieten sie ein Höchstmaß an Leistung und Leistungsfähigkeit. Die SPMs der Dimension XR-Familie vereinen diese Technologien in schlüsselfertigen Lösungen für nanomechanische, nanoelektrische und elektrochemische Anwendungen. Die Quantifizierung von Materialien und aktiven nanoskaligen Systemen in Luft, Flüssigkeiten, elektrischen oder chemisch reaktiven Umgebungen war noch nie so einfach. Hyperspektrale nanoelektrische Charakterisierung Umfasst das umfassendste Angebot an elektrischen AFM-Techniken für die Charakterisierung von Funktionsmaterialien, Halbleitern und Energieforschung. Sub-100nm elektrochemische Bildgebung Bietet die höchstauflösende Komplettlösung für die quantitative Analyse lokaler elektrochemischer Aktivitäten in Verbindung mit Batterien, Brennstoffzellen und Korrosion. Sofort einsatzbereit nanomechanische Analyse Bietet eine vollständig quantitative, schlüsselfertige Suite von Techniken zur Korrelation von Struktur und nanomechanischen Eigenschaften von Materialien. ERMÖGLICHT ERSTE UND EINZIGE AFM-FUNKTIONEN MIT HÖCHSTER LEISTUNG Optimierte Konfigurationen für die Spitzenforschung XR Nanomechanik XR Nanomechanics bietet eine Reihe von Modi zur umfassenden Erfassung kleinster Strukturen mit räumlicher Auflösung bis hin zu submolekularen Einheiten von Polymerketten. Mit unserem proprietären AFM-nDMA™-Modus können Forscher Nanomechanik-Daten mit Bulk-DMA- und Nanoidentifizierungsmethoden korrelieren.

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Kataloge

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Messen

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ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 Juni 2024 Frankfurt am Main (Deutschland)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.