Halbleiter-Dehnungsmessstreifen N
Oberflächen

Halbleiter-Dehnungsmessstreifen - N - BCM SENSOR TECHNOLOGIES bv - Oberflächen
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Eigenschaften

Technologie
Halbleiter
Geometrie
Oberflächen
Wert

Min: 15 Ohm

Max: 1.000 Ohm

Eichmass Faktor (k)

80 unit, 100 unit, 130 unit, 150 unit, 200 unit

Beschreibung

Die auf dem piezoresistiven Effekt basierenden Halbleiter-Dehnungsmessstreifen (ScSG) von BCM SENSOR werden aus p-Typ-Siliziumwafern hergestellt und sind in zwei Serien erhältlich: Die N-Serie, bei der die ScSG ohne Verstärkung hergestellt werden, und die B-Serie, die ScSG mit Verstärkung. Für die beiden ScSG-Serien sind drei Optionen für die Messlänge verfügbar: 2,6 mm, 3,8 mm und 5 mm. Was die Anordnung der Leitungen des ScSG betrifft, so bietet die B-Serie zwei Optionen, während die N-Serie nur eine Option hat, da ihre Leitungen flexibel sind und gebogen werden können. Die Details sind auf Seite 1 des Datenblatts unter Layout der Leitungen oder Drähte beschrieben. Falls die Differenz des ScSG-Widerstands kleiner sein muss als die Standardtoleranz von BCM SENSOR, werden die ScSG speziell sortiert und als gruppierte Messgeräte verpackt, um den erforderlichen Grenzwert zu gewährleisten. Dies wird als 6. und 7. Code in der Bestellnummer angegeben. Um eine schnelle Lieferung zu gewährleisten, sind sowohl von der N- als auch von der B-Serie der ScSG Muster mit unterschiedlichem Messfaktor, Messlänge und Widerstand ab Lager verfügbar. Das ScSG wird hauptsächlich zur Messung kleiner Dehnungen (im Bereich von Mikrodehnungen, μɛ) oder zur Kompensation von Nichtlinearitäten bei Aufnehmern verwendet.

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.