Wärmeleitende Temperatur-Kontrolleinheit A
Kühlungmodular

Wärmeleitende Temperatur-Kontrolleinheit - A - ATT Systems GmbH - Kühlung / modular
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Eigenschaften

Schutzart
wärmeleitend
Verwendung
Kühlung
Weitere Eigenschaften
modular
Maximaltemperatur

Max: 350 °C
(662 °F)

Min: -65 °C
(-85 °F)

Beschreibung

Wir bieten eine breite Palette extrem leistungsfähiger, zuverlässiger Temperaturkontrollsysteme für die Halbleiterindustrie. Das modulare Konzept für bequeme, kostengünstige System-Upgrades, höchste Investitionssicherheit und einfache Anpassung. Kerntechnologie Universal Chuck Design - ein Chuck für luft- und flüssigkeitsgekühlte Systeme Hybrid Chuck Design - Betrieb mit und ohne Kühlaggregat Luftgekühlte Hochtemperatursysteme Hybrid Chuck für Luft- und Flüssigkeitskühlung einsetzbar Die nachstehende Tabelle gibt einen Überblick über die allgemeinen Spezifikationen. Die Leistung des Spannfutters kann je nach Probertyp und Anwendung variieren. Advanced Temperature Test Systems steht für die besten verfügbaren Komponenten für unsere Produkte und die modernste Fertigungstechnologie. Unsere Produkte sind für außergewöhnliche thermische und mechanische Stabilität und Präzision ausgelegt. AddOn-Technologie Modulare AddOn Stacks für verschiedene Anwendungen eWLB, HV/HC, LN, Plain, Caro, usw.. Niedriger Wärmewiderstand (LTR) Technologie für niedrigen Wärmewiderstand (LTR) MultiSense-Technologie Hochpräzise Anwendungen Anwendungen mit hoher Leistung LTR Hohe Genauigkeit Technologie mit niedrigem Wärmewiderstand MultiSense mit mehreren Temperatursensoren Entwickelt für Geräte mit geringem Stromverbrauch und Sensoren Beste Temperaturgenauigkeit und -gleichmäßigkeit LTR Hohe Leistung Technologie mit niedrigem Wärmewiderstand Für Geräte mit hoher Leistung und hoher Parallelität Hohe Verlustleistung in einem weiten Temperaturbereich IntelligentDry Air Control Aktive CDA-Spülungssteuerung zur Reduzierung des Trockenluftverbrauchs Erweiterte Trockenluftregelung zur Spülung mit zwei einzelnen Medien Schutz des Klebepads Adaptive Taupunktsteuerung Dünne/verzogene Substrate Patentierte Bernoulli-Funktionalität für extrem dünne Wafer und Substrate

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.