Jeol Rasterelektronenmikroskope

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Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
JSM-7900F

Vergrößerung: 3.500 unit - 100.000 unit

... Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo Engine(New ...

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... Das JSM-IT200 ist ein einfach zu bedienendes REM, das sich auf die Kostenleistung der hohen Funktionen des JSM-IT500 (höherwertiges Modell) des InTouchScopeTM konzentriert, jedoch mit deutlich höherem Durchsatz. Specimen Exchange Navi, ...

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JCM-7000 NeoScope™

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miXcroscopy™

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SEM-Mikroskop
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JIB-4700F

Vergrößerung: 20 unit - 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 1,2, 4, 1,6 nm

JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System Fortschritte in den Materialwissenschaften und in den Life Sciences verlangen immer höhere Anforderungen an die bildgebenden, analytischen und präparativen Möglichkeiten moderner Focused-Ion-Beam-Systeme ...

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