Hitachi Mikroskope für Analyse

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Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8700

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... Das SU8700 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre FE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, hohen Sondenstrom, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU8600

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,7, 0,6 nm

... Das SU8600 läutet eine neue Ära der ultrahochauflösenden Kaltfeld-Emissions-Rasterelektronenmikroskope in der langjährigen Hitachi EM-Produktpalette ein. Diese revolutionäre CFE-SEM-Plattform bietet vielseitige Bildgebung, Automatisierung, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU7000

Vergrößerung: 20 unit - 2.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 0,8 nm

... FE-SEM erfordert nicht nur eine hohe Leistung, sondern auch eine Vielzahl von Funktionen wie großflächige Beobachtung, In-situ-Analyse, variabler Druck, hochauflösende Bildgebung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
SU5000

Räumliche Auflösung: 1,2 nm

... Mit EM Wizard werden Anfänger über Nacht zu Experten. - Die automatische Achsenjustierung (Autokalibrierung) versetzt das Mikroskop bei Bedarf in den "besten Zustand". - Eine robuste "ausziehbare" Probenkammer nimmt große ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SU series

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
FlexSEM 1000 II

Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm

... und kompaktes Design aus, so dass es in begrenzten Büro-, Labor- oder sogar mobilen Räumen installiert werden kann. Dieses Mikroskop ist sowohl für Anfänger als auch für erfahrene Mikroskopiker konzipiert und eignet sich ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
SEM-Mikroskop
SEM-Mikroskop
TM4000 series

Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm

... Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, ...

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Hitachi High-Tech Europe GmbH
Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
NP6800

Gewicht: 990 kg
Breite: 1.190 mm
Höhe: 1.800 mm

... Vakuumumgebung durch unser intuitives Design der Tastkopfbedienung beibehalten wird. - Dieses REM-basierte Prüfsystem wird zur Analyse von Defekten und Fehlern eingesetzt, die während des Herstellungsprozesses von Halbleiterbauteilen ...

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Elektronenmikroskop
Elektronenmikroskop
NE4000

... Das Hitachi NE4000 nanoEBAC ist ein elektronenstrahlbasiertes Prüfsystem für die elektrische Charakterisierung und EBAC-Analyse und Bildgebung von mikroelektronischen Bauteilverbindungen, Materialien und Komponenten. Die ...

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