Bruker Lokalsonde-Mikroskope

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QDAFM-Mikroskop
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Diamond III/IV

CIQTEK QDAFM Diamond III/IV ist ein Raster-NV-Zentrumsmikroskop, das auf dem Diamant-Stickstoff-Leerstellen-Zentrum (NV-Zentrum) und der AFM-Raster-Magnetbildgebungstechnologie basiert. Die magnetischen Eigenschaften der Probe werden ...

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Flex-Axiom

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... Das flexibelste Rasterkraftmikroskop für die Materialforschung Flexibelster Scan-Kopf auf dem Markt Geeignet für jede Probengröße Modulares Konzept: Konfigurieren Sie Ihr FlexAFM genau nach Ihren Bedürfnissen Für den Erfolg in der ...

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LabRAM HR Evo Nano

Räumliche Auflösung: 1 µm

... Physikalische und chemische Bildgebung auf einer einzigen Plattform Vollständig integriertes System basierend auf dem SmartSPM Rastersondenmikroskop und dem vollautomatischen Raman-Mikrospektrometer LabRAM HR Evolution. LabRAM HR Nano ...

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Dimension Icon®

... Das Dimension Icon® von Bruker bietet Forschern in Wissenschaft und Industrie im Nanobereich ein Höchstmaß an Leistung, Funktionalität und AFM-Zugänglichkeit. Es baut auf der weltweit meistgenutzten AFM-Plattform für große Proben auf ...

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Invizo® 6000

... Das Invizo® 6000 3D-Atomsondenmikroskop stellt einen bedeutenden technologischen Durchbruch dar, der die Grenzen der Atomsondenanalyse verschiebt. Sein ultrabreites Sichtfeld und das einzigartige Zweistrahl-Tief-UV-Laserimpulssystem ermöglichen ...

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CAMECA
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TESLA JT SPM

... > 5 Tage ununterbrochene Messzeit bei wechselnden Magnetfeldern mit nur 11 L L LHe Temperaturen bis zu 1 K mit 4He Extrem geringe thermische Drift Magnetische Felder BZ > 3 T Optischer Zugang STM und QPlus® AFM Ergonomisches Design & ...

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Scienta Omicron
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OS-AA

Räumliche Auflösung: 0,13, 0,1, 0,26 nm

... Das OS-AA SPM-System ist bekannt für seine Multifunktionalität und Offenheit. Es ist eine Plattform für Experimente, die unkonventionell sind und sich weiterentwickeln als eine reine Detektionsanlage. Es ist nicht nur eine Detektionsanlage. ...

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Angstrom Advanced
Rasterkraftmikroskop
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FX40 Automatic AFM

... Das automatische Rasterkraftmikroskop mit integrierter Intelligenz Mit dem FX40 erhalten Sie die schärfsten, klarsten und hochauflösendsten Bilder - eine Probe nach der anderen bei verschiedenen Anwendungen. Es vereint künstliche Intelligenz ...

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Park Systems
Rasterkraftmikroskop
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attoAFM III

Räumliche Auflösung: 1 nm

Mikroskop / SAM für Wafer
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AM 300

Die SAM Line bietet einfach zu bedienende Ultraschall-Rastermikroskope zur Prozesskontrolle und Qualitätssicherung sowie für Forschungsanwendungen. Die einzelnen Modelle basieren auf einer Komponentenplattform nach Industriestandard unter ...

Rasterkraftmikroskop
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A62.45011

Räumliche Auflösung: 0,05, 0,2 nm

Anwendung AII-in-One-Design, intelligente Struktur und Form. Scankopf und Probentisch sind zusammen entwickelt, starke Antivibrationsleistung. Pràzise Lasererkennung und Sondenausrichtung machen die Lasereinstellung einfach und leicht. ...

Rastersondenmikroskop
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VS-SKP

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