Inspektions-Mikroskop
VDM-E/Z
RAM Optical Instrumentation (ROI)
- Patentierte ausgedehnte Schärfentiefe (EEF) Zielsetzung mit Aufmittellinie Beleuchtung
- Summen-Zielsetzung mit Faser Optikringlight und Zusatzobjektiven
Das System ist mit Faseroptikbeleuchtung komplett und ist vorhanden mit einigen Wahlen, seine vielseitige Verwendbarkeit zu erhöhen. Wenn es kleine Teile von jedem möglichem Winkel kontrolliert, ist VDM die mühelose freie Wahl.
