Optisches Mikroskop Eclipse LV150N

Inspektiongerademit Interferenzkontrast

Eine Serie von flexiblen, modularen, aufrechten Mikroskopen für verschiedene episkopische optische Kontrastverfahren (BF-DF-DIC-POL-Fluoreszenz-Interferometrie). Zusammen mit dem digitalen Bildverarbeitungszubehör und den großen X-Y-Verfahrwegen sind die Geräte ideal für die Halbleiter- und Materialprüfung geeignet. Modulare, motorisierte und manuell aufrechte Mikroskope Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Dank des modularen Aufbaus ermöglicht das Universalmikroskop ergänzende optische Kontrastverfahren auf einem Mikroskopstativ. Nikon ECLIPSE LV150NA und LV150N Diese Mikroskope mit episkopischer Beleuchtung finden Ihren Einsatz für die Prüfung von Halbleitern, industriellen Materialien und Komponenten. Sie eignen sich auch für Anwendungen in Forschung und Entwicklung. Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie Nikons innovatives Design ermöglicht kristallklare Abbildungen mit unterschiedlichen Kontrastverfahren, einschließlich kontrastreiche Hellfeld-, Dunkelfeld-, Polarisations- (POL), Interferenzkontrast- (DIC) und Zweistrahl-Interferometrie-Verfahren. Nikon Digital Sight Kameras Die gesamte Palette der Digital-Sight-Kameras von Nikon kann Bilder einer Probe aufnehmen und an die Bildverarbeitungs-Software der NIS-Elements-Suite übermitteln. Bei Verwendung des LV-ECON E-Controllers können auch Daten zu den verwendeten Objektiven, den eingestellten Vergrößerungen und Beleuchtungseinstellungen automatisch an die Software übermittelt und von ihr gesteuert werden.