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Optisches Mikroskop / für Analyse / Digitalkamera / Polarisation
Eclipse Ci-POL Nikon Metrology

Eigenschaften

  • Typ:

    optisch

  • Anwendungstechnik:

    für Analyse

  • Weitere Eigenschaften:

    Digitalkamera, Polarisation, kompakt, für die Oberflächeninspektion

  • Vergrößerung:

    Min: 5 unit

    Max: 100 unit

Beschreibung


Dünn und kompakt, ist die EKLIPSE CI-POL eine Persönlichart polarisierenmikroskop, die nicht Ihren gesamten Schreibtisch besetzt. Mit Ausschnittrand CFI60 Unbegrenztheit Optik bietet sie vorgerückte optische Leistung und benutzerfreundlichen Betrieb an. Die eingebaute Sicherung Taste, die nahe der Frontseite der Mikroskopunterseite gelegen ist, erlaubt einfache Belichtung mit DS Reihe Kameras.

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