Optisches Mikroskop Eclipse LV100ND
LaborMessInspektion

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Eigenschaften

Typ
optisch
Anwendungsbereich
Labor, Mess, Inspektion, Industrie, metallurgisches, für Materialforschung, medizinisch, für Qualitätskontrolle, zur Untersuchung der nicht-metallischen Einschlüsse, für berührungslose 3-Achsen Mess, für Dünnschichtmessungen, Mehrzweck, zur online-Wafer-Kontrolle, Tiefenmess
Ergonomie
gerade
Mikroskopkopf
binokular, trinokulares
Beobachtungstechnik
Hellfeld, Fluoreszenz, Phasenkontrast, Dunkelfeld, polarisiert, Infrarot, mit differentiellem Interferenzkontrast
Konfigurierung
Tischgerät
Lichtquelle
LED-Beleuchtung, koaxialer Beleuchtung
Weitere Eigenschaften
ergonomisch, Digitalkamera, hochauflösend, Hochpräzision, 3-Achsen, für polierte Proben, motorisiert, Niedrigtemperatur, mit starker Vergrößerung, automatisiert, zur Glasfaserinspektion, mit Lichtstärkekontrolle, SAM für Wafer, mit Spezialbeleuchtung, mit veränderlicher Temperatur, USB, modulares, zur Bilderfassung, zur Mikroskop- und Profilometer Integrierung, für die Asbesterkennung, für Wafer, großer Arbeitsabstand, für Topographie, mit hohem Kontrast, hochauflösend, Gleittisch, Bildverarbeitung, mit interferometrischem Metrologie System unter Weißlicht, Echtzeit, kostengünstig, für die Nanotechnik, für flaches Muster, für Halbleiter, leicht zu befüllen
Gewicht

9,5 kg
(20,9 lb)

Länge

362 mm
(14,3 in)

Breite

251 mm
(9,9 in)

Höhe

506 mm
(19,9 in)

Beschreibung

Die ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Serie flexibler, modularer, aufrechter Mikroskope von Nikon ist für episkopische und diaskopische optische Kontrastverfahren konzipiert. Die Geräte können mit digitalem Kamerazubehör geliefert werden und sind ideal für die Materialprüfung in vielen industriellen Anwendungen. Modulare, motorisierte und manuelle aufrechte Mikroskope Die hervorragenden Optiken der Nikon CFI60-2 Serie liefern exzellente Bilder für beide Okulare und für die digitalen Nikon-Kameras mit Analyse-Software. Das universelle Mikroskopdesign ermöglicht dank eines modularen Komponentenprogramms komplementäre optische Kontrastverfahren zusammen auf einem Mikroskopstativ Nikon ECLIPSE LV100NDA und LV100ND Diese Mikroskope mit episkopischer und diaskopischer Beleuchtung sind für die Inspektion von industriellen Materialien und Komponenten sowie für Anwendungen in Forschung und Entwicklung bestimmt. Nikon CFI60-2 Objektiv-Serie Nikons innovatives Design ermöglicht klare Abbildungsverfahren, einschließlich Hellfeld, Dunkelfeld, Polarisation (POL), differentiellem Interferenzkontrast (DIC) und Zweistrahlinterferometrie mit hohem Kontrast. Nikon Digital Sight Kameras Alle Nikon Digital Sight Kameras nehmen effizient Bilder einer Probe auf und liefern sie an die Bildverarbeitungssoftware der NIS-Elements Suite, zusammen mit Mikroskopdaten über das verwendete Objektiv, die Vergrößerungseinstellung und die

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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.