Rasterkraftmikroskop NaniteAFM

für AnalyseOberflächenrauheitfür 3-Achsen-Messung

Das kleinste AFM für die kundenspezifische Integration Kompakt Robustheit Einfach zu integrieren Die Oberflächenmorphologie ist eine wichtige Eigenschaft für viele High-Tech-Oberflächen mit Eigenschaften, die bis zu einigen Nanometern und Oberflächenrauhigkeiten unter dem Nanometer reichen können. Mit AFM können solche Merkmale unter Umgebungsbedingungen leicht analysiert werden. Die meisten AFMs sind in der Art und Größe der Proben, die sie verarbeiten können, begrenzt. Das NaniteAFM von Nanosurf ist die marktführende Lösung für die AFM-Integration mit geringster Einschränkung auf die Probenabmessungen. Der NaniteAFM verfügt über einen Spitzenscanner, zwei Inspektionsvideokameras und einen integrierten Annäherungsmotor auf kleinstem Raum. Es enthält alles, was für den unabhängigen Betrieb erforderlich ist, und ebnet den Weg für eine einfache Integration: Alles, was Sie benötigen, sind 300 cm3 Platz und ein stabiler Dockingplatz für die Montage des AFM.