Rasterkraftmikroskop NaioAFMMessOberflächenrauheitfür Lehrzwecke
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Eigenschaften
- Typ
- Rasterkraft
- Anwendungsbereich
- Mess, Oberflächenrauheit, für Lehrzwecke, für die Oberflächeninspektion
- Konfigurierung
- kompakt, Tischgerät, tragbar
- Weitere Eigenschaften
- Digitalkamera, hochauflösend, leicht zu befüllen
- Räumliche Auflösung
Min: 14 µm
Max: 70 µm
Beschreibung
Das führende AFM für Nanoeducation
Kompakt und robust
Einfach zu bedienen
Reales Preis-Leistungs-Verhältnis
Das NaioAFM ist das ideale Rasterkraftmikroskop für die Nanoedukation und Grundlagenforschung an kleinen Proben. Dieses All-in-One-AFM-System bietet solide Leistung und einfache Handhabung, mit einem Preisschild und einer Grundfläche, die zu jedem und jedem Ort passen.
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VIDEO
Kataloge
Nanosurf NaioAFM
4 Seiten
Isostage 300
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* Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.