Charakterisierungsgerät 2600-PCT series

PCT-Konfigurationen (Parametrische Kurvenverfolgung) von Keithley Die Entwicklung und Verwendung von MOSFETS, IGBTs, Dioden und anderen Hochleistungskomponenten erfordert eine umfassende Charakterisierung auf Komponentenebene, wie z. B. Durchbruchspannungs-, Durchlassstrom- und Kapazitätsmessungen. Die Line der leistungsstarken PCT-Konfigurationen von Keithley unterstützt das gesamte Spektrum an Komponententypen und Testparametern. Die parametrischen Kurvenverfolgungskonfigurationen von Keithley beinhalten alles, was der Charakterisierungsingenieur für die schnelle Entwicklung eines kompletten Testsystems benötigt. Merkmale •Komplettlösungen für ein Optimum an Preis und Leistung •Vor Ort aufrüstbar und rekonfigurierbar – verwandeln Sie Ihre PCT in ein Prüfgerät für Zuverlässigkeit oder Wafer-Sortierung •Konfigurierbare Leistungsstufen: ○Von 200 V bis 3 kV ○Von 1 A bis 100 A •Breiter dynamischer Bereich: ○Von µV bis 3 kV ○Von fA bis 100 A •Umfassende Kapazitäts-Spannung (C-V)-Funktion: ○fF bis µF ○Unterstützt Geräte mit 2, 3 und 4 Anschlüssen ○DC-Bias bis zu 3 kV •Hochleistungstestvorrichtung unterstützt zahlreiche Pakettypen •Die Nadelmessplatz-Schnittstelle unterstützt die meisten Nadeltypen, einschließlich HV Triax, SHV Coax, Standard Triax u. a.