Elektronenmikroskop JEM-Z300FSC

für Analysekleinformatigmit kalter Feldemission

Das hoch-automatisierte Elektronenmikroskop CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300) steht für noch schnellere, noch einfachere und noch höher auflösende Kryo-Elektronenmikroskopie. Die automatisierte Einzelpartikelanalyse (engl. “Single Particle Analysis“, Abk: SPA) hat in den letzten Jahren dramatische Fortschritte gemacht und ermöglicht mittlerweile die atomare Abbildung von Protein-Strukturen. Hierfür steht Wissenschaftlern seit 2017 das Mikroskop CRYO ARM™ 300 mit einer einzigartigen kalten Feldemission (CFEG) und einem sehr flexiblen Lademechanismus zum Aufbewahren und Untersuchen von Kryo-Proben zur Verfügung. Basierend auf dem Feedback der Anwender hat JEOL das CRYO ARM™ seitdem signifikant verbessert. So erlaubt die neuartige Kryo-Stage den schnellen Wechsel zwischen Screening und hochauflösender Datenaufnahme, für das bisher typischerweise zwei separate Systeme eingesetzt wurden. Darüber hinaus wurden das Bedienkonzept und die Einstellung der Elektronenoptik samt des Energiefilters spürbar verbessert, wodurch die Aufnahme qualitativ hochwertiger Datensätze nun auch für Einsteiger einfach erlernbar ist. Auch der Probendurchsatz wurde durch zahlreiche neue Features drastisch erhöht, sodass das neue CRYO ARM™ 300 II zugleich schneller und einfacher bedienbar ist. Optimierter Durchsatz Vom Einbau der Probe in das Mikroskop, über das Screenen und Abbilden bis hin zum Lagern und finalen Ausbau werden kryogene Proben einige Male im Mikroskop bewegt. Im JEOL CRYO ARM™ 300 II werden Proben in stabile, massive Kartuschen eingebaut und können daher mit höchster Präzision und orientierungsrichtig positioniert werden.