Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität bei und ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung und hochwertige Elementaranalyse.
Um eine stabile Datenerfassung auf höchstem Leistungsniveau zu ermöglichen, bietet das SU9000II neue Funktionen, die eine automatische Anpassung des optischen Systems ermöglichen, sowie das neue Softwarepaket EM Flow Creator als Option für die automatische Datenerfassung, insbesondere für die sequenzielle Datenerfassung.
Darüber hinaus bietet das einzigartige Design des optischen Systems die Möglichkeit der EELS für fortgeschrittene Materialanalysen.
Das SU9000 ist das neue Premium-SEM von HITACHI. Es verfügt über eine einzigartige Elektronenoptik, bei der die Probe in einem Spalt zwischen dem oberen und unteren Teil des Objektivpolstücks positioniert ist. Dieses so genannte True-in-Lens-Konzept - kombiniert mit der nächsten Generation der Kaltfeldemissionstechnologie von HITACHI - garantiert die höchstmögliche Systemauflösung (SE-Auflösung 0,4 nm bei 30 kV, 1,2 nm bei 1 kV ohne Strahlverzögerungstechnologie [0,8 nm mit Strahlverzögerung]) und Stabilität.
Um dieses Auflösungsvermögen für praktische Anwendungen in Ihrem Labor nutzbar zu machen, verwendet das SU9000 einen ultrastabilen Seiteneingangs-Probentisch, ähnlich wie bei High-End-TEM-Systemen, und verfügt über eine optimierte Vibrationsdämpfung und ein geschlossenes Gehäuse, um die Elektronenoptik vor Umgebungsgeräuschen zu schützen.
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