SEM-Mikroskop TM4000 series
für AnalyseMessAtomzahlkontrast

SEM-Mikroskop
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Eigenschaften

Typ
SEM
Anwendungsbereich
für Analyse, Mess
Beobachtungstechnik
Atomzahlkontrast, Topographie
Konfigurierung
Tischgerät, kompakt
Detektortyp
Rückstreuelektronen, Sekundärelektronen
Weitere Eigenschaften
leicht zu befüllen, Digitalkamera, hochauflösend, automatisiert, Bildverarbeitung, kostengünstig, motorisiert, für Geowissenschaften, für die Nanotechnik, für zur Messung Luft und Flüssigkeiten, für Topographie, mit Profilometriefunktion, Rasterelektronen mit variablem Druck, zur Mikroskop- und Profilometer Integrierung, für die Asbesterkennung, für flaches Muster, mit hohem Kontrast, für polierte Proben, mit starker Vergrößerung
Vergrößerung

Min: 10 unit

Max: 25.000.054 unit

Gewicht

54 kg
(119 lb)

Länge

614 mm, 617 mm
(24,2 in, 24,3 in)

Breite

330 mm
(13 in)

Höhe

547 mm
(21,5 in)

Beschreibung

Die TM4000-Serie zeichnet sich durch Innovationen und Spitzentechnologien aus, die die Möglichkeiten eines Tischmikroskops neu definieren. Diese neue Generation der seit langem bewährten Hitachi-Tischmikroskope (TM) vereint Benutzerfreundlichkeit, optimierte Bildgebung und hohe Bildqualität, wobei das kompakte Design der bewährten Hitachi-Produkte der TM-Serie erhalten bleibt. Erleben Sie die neue Dimension der Tischmikroskope mit dem Hitachi TM4000 II und TM4000Plus II. Ein hochwertiges Bild kann mit einfachen Schritten erzielt werden. Automatisierung, Beobachtung und Elementaranalyse Einfacher Bildwechsel mit einem Klick. Schnelle Erfassung von Elementkarten * Beispiel: Bewegung der Uhr Intuitive Bedienung von Camera Navi * Die Verwendung optischer Bilder hilft bei der einfachen Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM MAP-Bild gelegt werden. Berichtserstellung Wählen Sie einfach Bilder und eine Vorlage aus, um einen individuellen Bericht zu erstellen. Die erstellten Berichte können in Microsoft Office®-Formaten gespeichert/bearbeitet werden. Verschiedene Bildgebungsanwendungen mit 4-unter-Niedrig-Vakuum-Status. Aufladungsreduktionsmodus Die Aufladung einer Probe kann mit einem Mausklick reduziert werden. Abbildung einer Vielzahl von Materialien unter Niedrigvakuumbedingungen Die Bilder zeigen Beobachtungen von nichtleitenden Proben wie Tintentonerpartikeln und einer hydratisierten Blattoberfläche. Innovativer Sekundärselektionsdetektor zur Erzielung von Oberflächendetails bei nichtleitenden Proben unter Niedrigvakuumbedingungen Mit dem TM4000Plus II können nicht nur leitfähige Proben, sondern auch nichtleitende oder hydratisierte Proben ohne Probenvorbereitung untersucht werden. Das Umschalten zwischen BSE und SE ist einfach möglich.

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

analytica 2024
analytica 2024

9-12 Apr. 2024 München (Deutschland) Halle A2 - Stand 113

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    36th Control 2024
    36th Control 2024

    23-26 Apr. 2024 Stuttgart (Deutschland) Stand 7103

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.