Fokussiertes Ionen Strahl System NX9000

Das neu entwickelte FIB-SEM-System von Hitachi, das NX9000, verfügt über ein optimiertes Layout für echte hochauflösende Serienschnitte, um den neuesten Anforderungen in der 3D-Strukturanalyse und für TEM- und 3DAP-Analysen gerecht zu werden. Das NX9000 FIB-SEM-System ermöglicht höchste Präzision in der Materialbearbeitung für eine Vielzahl von Bereichen im Zusammenhang mit fortschrittlichen Materialien, elektronischen Geräten, biologischen Geweben und einer Vielzahl anderer Anwendungen. - Die REM-Säule und die FIB-Säule sind orthogonal angeordnet, um die Positionierung der Säule für die 3D-Strukturanalyse zu optimieren. - Die Kombination aus hochheller Kaltfeld-Emissions-Elektronenquelle und hochempfindlicher Optik unterstützt die Analyse eines breiten Spektrums von Materialien, von biologischem Gewebe bis hin zu magnetischen Werkstoffen. - Das Micro-Sampling-System und das Triple-Beam-System ermöglichen eine qualitativ hochwertige Probenvorbereitung für TEM- und Atomsondenanwendungen. Ionenfräsen und Beobachtung bei normalem Einfall in Echtzeit für echte analytische Bildgebung Die SEM-Säule und die FIB-Säule sind orthogonal angeordnet, um die SEM-Abbildung von FIB-Querschnitten bei normalem Einfall zu ermöglichen. Durch die orthogonale Säulenanordnung werden Aspektverformungen, die Verkürzung von Querschnittsbildern und die Verschiebung des Sichtfelds (FOV) während der Aufnahme von Serienschnitten vermieden, was bei herkömmlichen FIB-SEM-Systemen nicht möglich ist. Die Bilder des NX9000 ermöglichen eine hochgenaue 3D-Strukturanalyse. Optisch korrelative Mikroskopie kann aufgrund der Vorteile der oberflächenplanaren EM-Bildgebung leicht angewendet werden. Schneiden&Sehen Cut & See ermöglicht die hochauflösende, kontrastreiche Bildgebung von biologischem Gewebe, Halbleitern und magnetischen Materialien wie Stahl und Nickel bei niedrigen Beschleunigungsspannungen.