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Fluoreszenzspektrometer XDL® series
EDRFALaborautomatisiert

Fluoreszenzspektrometer
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Eigenschaften

Typ
Fluoreszenz, EDRFA
Bereich
Labor
Weitere Eigenschaften
automatisiert

Beschreibung

Röntgenfluoreszenz-Messgerät zur manuellen oder automatisierten Schichtdickenmessung von funktionalen Schichten, Korrosionsschutz-Schichten und Massenteilen. Merkmale • Robustes Gerät zur Schichtdickenmessung, auch für große Messabstände geeignet (DCM, Hub 0-80 mm) • Verfügt über eine feste Blende und einen festen Filter • Für Anwendungen mit Messfleckgrößen ab ca. 1 mm • Große, geräumige Messkammer mit C-Schlitz • Programmierbarer Tisch für automatisierte Messungen erhältlich • Standard-Röntgenröhre, Proportionalzählrohr Typische Einsatzgebiete • Messung von galvanisierten Massenteilen • Korrosionsschutz- und dekorative Schichten wie Chrom auf Nickel/Kupfer • Badanalyse in der Galvanik • Gold-, Schmuck- und Uhrenindustrie

Kataloge

Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

Global Industrie 2024
Global Industrie 2024

25-28 März 2024 París Villepinte (Frankreich)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.