AFM-Mikroskop Dimension FastScan

für Analysefür ForschungszweckeMess

Das Dimension FastScan® Rasterkraftmikroskop (AFM) wurde speziell für schnelles Scannen ohne Auflösungsverlust, Verlust der Kraftkontrolle, zusätzliche Komplexität oder zusätzliche Betriebskosten entwickelt. Mit FastScan erhalten Sie sofortige AFM-Bilder mit der erwarteten hohen Auflösung eines Hochleistungs-AFMs. Ob Sie mit >125 Hz scannen, wenn Sie eine Probe vermessen, um den interessierenden Bereich zu finden, oder mit Zeitraten von 1 Sekunde pro Bild in Luft oder Flüssigkeit, FastScan definiert das AFM-Erlebnis neu. Keine Kompromisse hochgeschwindigkeitsleistung Liefert jederzeit höchste Auflösung, unabhängig von der Probengröße. dynamik im Nanobereich Ultimative Abtastgeschwindigkeit und Stabilität für die direkte Visualisierung des dynamischen Verhaltens in Luft oder Flüssigkeit. Automatisierte einrichtung, Datenerfassung und Analyse Macht den Betrieb des Systems überraschend einfach und steigert gleichzeitig die Produktivität, so dass Sie sich auf Ihre Forschung konzentrieren können. Benchmark für hohe Geschwindigkeit und hohe Auflösung Dimension FastScan ist das erste und einzige Hochgeschwindigkeits-Tip-Scanning-System, das Scanraten von einem Bild pro Sekunde erreicht, ohne dass die Auflösung oder die Systemleistung beeinträchtigt wird - unabhängig von der Probengröße. Kein anderes Hochgeschwindigkeits-AFM hat einen so großen Probenzugang wie das FastScan. In Verbindung mit PeakForce Tapping® erreicht das System eine sofortige Kraftmessung mit einer linearen Regelschleife, die eine punktgenaue dimensionale und mechanische Auflösung ermöglicht, und das nicht nur bei harten, flachen Kristallen. Außergewöhnliche Produktivität Jeder Aspekt des Dimension FastScan - von der weit geöffneten Spitze und dem Zugang zur Probe bis hin zu den vorkonfigurierten Softwareeinstellungen - wurde speziell für einen störungsfreien, überraschend einfachen Betrieb entwickelt.