Infrarotspektrometer Glacier® X
UV-visNIRoptisches Czerny-Turner

Infrarotspektrometer
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Eigenschaften

Typ
Infrarot, UV-vis, NIR, optisches Czerny-Turner, UV-Vis-NIR
Bereich
Labor, Prozess, Mess, schnell, für Spektroskopie, OEM, mit internem Kühler, Überwachung
Konfigurierung
kompakt, modular
Detektortyp
CCD
Weitere Eigenschaften
USB
Wellenlänge

Min: 200 nm

Max: 1.050 nm

Beschreibung

TE-gekühltes CCD-Spektrometer Das Glacier® X ist ein TE-gekühltes Spektrometer mit hohem Dynamikbereich, deutlich reduzierter Dunkelheitszahl und hervorragender Langzeitstabilität, wodurch es sich ideal für die Detektion niedriger Lichtpegel und Langzeitüberwachungsanwendungen eignet. Die kompakte Größe des TE-gekühlten Spektrometers Glacier X macht es zur perfekten Lösung für Anwendungen, die hohe Leistung und Portabilität erfordern. Es ist mit einem linearen CCD-Array mit 2048 Elementen, einem integrierten 16-Bit-Digitalisierer und einer Hochgeschwindigkeits-USB 2.0-Schnittstelle ausgestattet. Im Vergleich zu ungekühlten CCD-Spektrometern bietet das Glacier X-Miniaturspektrometer einen höheren Dynamikbereich, eine deutlich reduzierte Dunkelheitszahl und eine überlegene Basislinienstabilität, was es zum idealen Spektrometer für die Detektion niedriger Lichtpegel und Langzeitüberwachungsanwendungen macht. Die kombinierte Temperaturkühlung und -regelung zusammen mit seinem kompakten Formfaktor macht das Spektrometer Glacier TE Cooled zur bevorzugten Wahl von OEM-Systemintegratoren. Die TE-Kühlung ermöglicht es, schwache Signale wie Fluoreszenz und Raman für eine ausreichende Zeit zu integrieren, um messbare Signale für die Detektion zu akkumulieren, was zu einem weit überlegenen Signal-Rausch-Verhältnis führt. Der Glacier® X ist ideal für die meisten UV-, Vis- und NIR-Anwendungen mit Spektralkonfigurationen von 200 nm bis 1050 nm und Auflösungen zwischen 0,2 nm und 4,5 nm. Für OEM-Anwendungen sind kundenspezifische Konfigurationen erhältlich. Anwendungen: UV, Vis und NIR: Spektroskopie / Spektralradiometrie / Spektralphotometrie Übertragung, Reflexion, Absorption Fluoreszenz-Spektroskopie Identifizierung der Wellenlänge Integration von OEM-Systemen Verfügbares Zubehör umfasst - Lichtquellen - Faseroptische Sonden

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Messen

Sie können diesen Hersteller auf den folgenden Messen antreffen

ACHEMA 2024
ACHEMA 2024

10-14 Juni 2024 Frankfurt am Main (Deutschland)

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    * Die Preise verstehen sich ohne MwSt., Versandkosten und Zollgebühren. Eventuelle Zusatzkosten für Installation oder Inbetriebnahme sind nicht enthalten. Es handelt sich um unverbindliche Preisangaben, die je nach Land, Kurs der Rohstoffe und Wechselkurs schwanken können.