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Rastersondenmikroskope

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Skyray Instrument
Rastersondenmikroskop (SPM)  OS-AA Skyray Instrument
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Einleitungen
OS-AA SPM System bekannt für seine Multifunktionalität und volle Offenheit. OS-AA System ist nicht nur eine Plattform für unkonventionelle Experimente aber auch für weitere Entwicklungen als eine Routineermittelnanlage.

Eigenschaften

Milti-Funktion: STM, Flughandbuch, LFM, MFM, EFM, in Verbindung tretender Modus, klopfend, Phase
Enthaltene volle Digitalsteuerung ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  AFM, MFM, EFM | AA5000 Skyray Instrument
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Einleitungen
Prüfspitzen-Mikroskop des Scannen-AA5000 ist das erneuerte Modell. Die Maßeinheit hat eine volle Deckung von SPM TECHNIK-STM, Flughandbuch, LFM leitendes Flughandbuch, MFM, EFM, Umgebungskontrolle SPM und Nano-Verarbeitung... Und die Maßeinheit ist entworfen, um Bilder der Atomskala zu 100 Mikrometer zur Verfügung zu stellen. Mit einem Digital-Signal-Prozessor (DSP) TMS320C642 innerhalb ...

Bruker Elemental
Rastersondenmikroskop (SPM)  Innova Bruker Elemental

The Innova atomic force microscope provides more performance and flexibility at a greater value than any other SPM. The proprietary closed-loop scan delivers noise-levels that approach those of high-end, open-loop systems and offers a wide range of functionality for physical, materials, and life sciences, from sub-micron levels up to 90 microns.

Jeol
Hochauflösendes Rastersondenmikroskop  JSPM-5200 Jeol
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Das JSPM-5200 ist eine Vielzweck-, hohe anbietenbenutzerfreundlichkeit der Entschließung SPM mit verschiedenem Maß und Beispielumwelt. Das JSPM-5200 kann in der verschiedenen gebürtigen Umwelt verwendet werden -- von der umgebenden Luft Schutzatmosphäre, flüssig oder vom Vakuum wenn die Probe erhitzt worden zu 500° C (773K) oder zu -143° abgekühlt ist, C (130K). Das JSPM-5200 kann eine große Auswahl ...

Rastersondenmikroskop (SPM) Jeol
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Das Scannenprüfspitze Mikroskop (SPM) wurde während der Achtzigerjahre entwickelt und ist jetzt ein unentbehrliches Werkzeug für die direkte hohe Entschließungstudie der Oberflächen- und Oberflächenkräfte. Beginnend mit dem Scannentunnelbaumikroskop 1981, wurde die Technik zur Atomkraftmikroskopie einschließlich die Kontakt-, berührungsfreie und getrenntekontaktmodi bis zum 1988 erweitert. Indem man ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  JSPM-5410 Jeol
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Das JSPM-5410 ist ein leistungsfähiges und vielseitig begabtes Scannenprüfspitzenmikroskop, das auch bedienungsfreundlich ist. Das JSPM-5410 bietet Hochgeschwindigkeits-, non-damaging Scan-Steuerung, die einfache Positionierung, hohe Entschließungdarstellung und beständige Beobachtung der erhitzten/abgekühlten Proben im hohen Vakuum an.

Das patentierte JSPM-5410, berührungsfreies Flughandbuch, ...

Angstrom Advanced
Rastersondenmikroskop (SPM)  AA5000 Angstrom Advanced
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Eigenschaften:

Multifunktions: Flughandbuch, LFM, STM, leitendes Flughandbuch, MFM und EFM;
Vielfachbetriebs: In Verbindung tretender Modus, klopfender Modus, Phasen-Darstellung und anhebender Modus;
SPM kann in der Flüssigkeit sein;
Realzeittemperatur- und Feuchtigkeitsentdeckung;
Kraft-Analyse: IV Kurve, I-Z Kurve, Kraft-Kurve und Umfangs-Kurve;
Nano-Verarbeitung ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  AA3000 Angstrom Advanced
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Prüfspitzen-Mikroskop des Scannen-AA3000 ist unser populärstes Modell. Diese Maßeinheit wird in Richtung zu den Forschungs- und Industrieanwendungen hergestellt, in denen der Benutzer angefordert wird, schnelle und einfache Analyse durchzuführen. Der Detektor wird direkt in die Unterseite errichtet und beseitigt die Wahrscheinlichkeit der Schädigung sie durch die Behandlung. AA3000 ist zur Ausführung ...

CAMECA
Hochauflösendes Rastersondenmikroskop  LEAP Si CAMECA
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Der SPRUNG Si™ Metrologie-System ist ein leistungsstarkes Atomprüfspitzenmikroskop, das 3D, Atomentschließung, kreative Darstellung und Analyse zur Forschung und zur Industrie bereitstellt. Materialien werden überprüft, indem man einzelne Atome entfernt und analysiert. Atome werden durch eine Kombination eines hohen elektrischen Feldes und des irgendeines entfernt: (1) ein ultraschneller ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  LEAP HR CAMECA
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Der SPRUNG Stunde ist ein leistungsstarkes Atomprüfspitzenmikroskop, das Atomentschließung, kreative Darstellung 3D und Analyse zur Forschung und zur Industrie bereitstellt. Materialien werden überprüft, indem man einzelne Atome entfernt und analysiert. Atome werden durch eine Kombination eines hohen elektrischen Feldes und des irgendeines entfernt: (1) ein ultraschneller Spannungsimpuls oder (2) ...

attocube systems AG
Controller für Rastersondenmikroskop (SPM)  ASC500 attocube systems AG
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Das ASC500 ist ein modularer und flexibler digitaler SPM Steuerpult, der state-of-the-art Kleinteile mit erfinderischer Software-Architektur, anbietender überlegener Leistung und beispielloser Vielzahl der Steuerkonzepte kombiniert. Der Steuerpult ASC500 wurde mit dem Ziel entwickelt, um der Begrenzungsfaktor in jedem möglichem SPM Experiment nie zu sein. Alle wünschenswerten Funktionen und high-end ...

OMICRON
Rastersondenmikroskop (SPM) OMICRON
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Das MULTIPROBE P ist ein System der Doppel-raum Oberflächen-Wissenschaft UHV mit einem großen Multitechnik Analysenraum für Elektronspektroskopie- und UHV Scannenprüfspitzenmikroskopie und ein unterschiedlicher Beispielvorbereitungsraum mit FEL. Die Vorbereitungsräume im MULTIPROBE P bietet Standardbeispielvorbereitungsanlagen wie Dünnfilmwachstum oder die spritzende und erhitzende Probe an.

recherche-kwref www di De 2012-02-06-12