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Rasterelektronenmikroskope
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Räumliche Auflösung: 3, 8, 7 nm
Gewicht: 10 kg
... verhindern eine breite Akzeptanz. Wir haben uns vorgenommen, diese Herausforderungen zu meistern, um ein wirklich zugängliches SEM zu schaffen, ohne dabei Kompromisse bei der Flexibilität einzugehen. Unser Ziel war es, ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 0,7, 1, 0,6 nm
... Charakterisierung von Nanomaterialien mit Sub-Nanometer-Auflösung und hohem Materialkontrast. Verios 5 XHR Raster-Elektronenmikroskop Das Verios 5 XHR SEM bietet eine Subnanometerauflösung über den gesamten ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Räumliche Auflösung: 1,3, 1, 0,8, 3 nm
... Umwelt-Rasterelektronenmikroskop (ESEM) für die Untersuchung von Materialien in ihrem natürlichen Zustand. Quattro Umweltscanning-Elektronenmikroskop Das Thermo Scientific Quattro ESEM kombiniert eine umfassende Leistung ...
THERMO FISHER SCIENTIFIC - MATERIALS SCIENCE
Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm
... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren ...
Vergrößerung: 6 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 4, 5, 15 nm
... nur in einem ausgewachsenen SEM verfügbar war. Dieses SEM wird mit sauberer Energie betrieben und ist damit ein wirtschaftliches Analysewerkzeug, das keine Kompromisse bei der Leistung eingeht. Das Rasterelektronenmikroskop ...
Vergrößerung: 10 unit - 25.000.054 unit
Gewicht: 54 kg
Länge: 614, 617 mm
... Verwendung optischer Bilder hilft bei der einfachen Navigation zum Zielbeobachtungsgebiet. Gewonnene SEM-Bilder können über ein SEM MAP-Bild gelegt werden. Berichtserstellung Wählen Sie einfach Bilder und eine Vorlage ...
In Umgebungen für die industrielle Qualitätssicherung oder Forschung ist das Rasterelektronenmikroskop die beste Wahl für Metallografie- und Fehleranalyse. Denn es bietet Imaging in Hochauflösung und eine hohe räumliche ...
ZEISS Industrial Metrology
Vergrößerung: 300.000 unit
Räumliche Auflösung: 3, 4, 8 nm
Gewicht: 480 kg
... Das CIQTEK SEM3200 ist ein leistungsstarkes Wolfram-Filament-Rasterelektronenmikroskop. Es hat eine hervorragende Bildqualität, Niedervakuum-Modus-Kompatibilität, hochauflösende Bilder in verschiedenen Bereichen der Ansicht. ...
Vergrößerung: 1 unit - 2.500.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,6 nm
Gewicht: 400 kg
... SEM5000X ist ein ultrahochauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM) mit einer bahnbrechenden Auflösung von 0,6 nm@15 kV und 1,0 nm@1 kV. Dank des verbesserten Säulenentwicklungsprozesses, der "SuperTunnel"-Technologie ...
Die Produktfamilie ZEISS Sigma verbindet die Technologie des Feldemissions-Rasterelektronenmikroskops (FE-SEM) mit einer hervorragenden Benutzerfreundlichkeit. Sie können Ihre Bildgebungs- und Analyseroutinen strukturieren ...
ZEISS Métrologie industrielle
Vergrößerung: 3.500 unit - 100.000 unit
... Das JSM-7900F ist JEOLs neues Flaggschiff unter den FE-SEMs, das extrem hochauflösende Bildgebung, verbesserte Stabilität und außergewöhnliche Benutzerfreundlichkeit für alle Anwender in einer Mehrzweckumgebung vereint. Neo Engine(New ...
Jeol
Die 4. Generation des TESCAN VEGA Rasterelektronenmikroskops (REM) ist mit Wolfram-Filament-Elektronenquelle ausgestattet. Es kombiniert die REM-Bildgebung mit einer Live-Analyse der Zusammensetzung Ihrer Proben zeitgleich ...
Tescan GmbH
Vergrößerung: 1.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 3 nm
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