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Rasterelektronenmikroskope

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Hitachi High-Technologies Europe
Rasterelektronenmikroskop (SEM), Tischgerät  TM3000 Hitachi High-Technologies Europe
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Die folgendes Erzeugung TM3000 Tischplattemikroskopbauten auf dem Erfolg seines Vorgängers, dem TM-1000 und den Angeboten verbesserten erheblich Leistung, einschließlich lineare Wiedergabe bis bis 30,000x und zur besseren Entschließung, in einer Maßeinheit, die 20% weniger Raum besetzt und einen energiesparenden Entwurf hat. Das neue TM3000 ist ein Druck-Rasterelektronenmikroskop der Tischplatte variables, ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  SU70 Hitachi High-Technologies Europe
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Wir sind stolz, unsere NEUE vielseitig begabte Lösung zu den analytischen Zwecken im Verbindung mit Ultra-Hoch-Entschließung und reichlichen Signal-Vorwählerfähigkeiten darzustellen.

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit variablem Druck (VP FE-SEM)  SU6600 Hitachi High-Technologies Europe
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Revolutionäre automatische Mittellinie-aligment fucntions (Selbstlichtstrahl-Einstellung, axiales Selbstaligment, ect.)
Sogar bessere Entschließung von 10nm an 3kV
Realzeit-, Doppelbildanzeige und Signalmischen
Mittellinie 5 motorisierte Stadium mit hoher Neigung (- ~ 20 +90 Grad.) eine hohe Probe bis zu 80mm hohem anwendbarem (Art - 2)
Analytischer Exemplarraum mit optimaler Geometrie ...

Phenom-World
Rasterelektronenmikroskop (SEM) (3D, Ra, Rz)  3D, Ra, Rz Phenom-World
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Mit der Rekonstruktionanwendung der Rauheit-3D ist der Phenom in der Lage, dreidimensionale Bilder und submicrometer Rauheitmaße zu erzeugen.

Diese völlig automatisierte Anwendung für das PhenomRasterelektronenmikroskop hilft, Darstellungresultate mitzuteilen und extrahiert und macht Daten normalerweise versteckt innerhalb einer Probe sichtbar.

3D
Darstellung 3D hilft, Beispieleigenschaften ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Faseranalyse  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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Bessere, schnellere Faser-Analyse

Jetzt unmittelbare Beobachtung und Maß des Mikros und
nano Fasern ist schneller, besser und leicht als überhaupt vor, mit
die verbesserte Fibermetric Anwendung.

Im Verbindung mit dem Phenom™ Erlaubt ProtischplattenG2 Rasterelektronenmikroskop, die Fibermetric Anwendung Ihnen, genaue Größeninformationen aus den Mikro- und nano Faserproben ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM)  20 - 17 000X | G2 pure Phenom-World
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Das reine Phenom G2 ist ein ideales Werkzeug für das Bilden des überganges vom Arbeiten mit einem hellen Mikroskop zum Laufen lassen eines Elektronenmikroskops. Das reine Phenom G2 wird mit den grundlegenden Bestandteilen für Sitzung Belichtung Notwendigkeiten ausgerüstet.
Das reine Phenom G2 liefert hochwertige Bilder, beim Verwenden der grundlegenden Funktionen und bietet die schnellste ...

Carl Zeiss MicroImaging
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Materialanalyse Carl Zeiss MicroImaging
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Korrelative Mikroskopie

“ Doppelventilkegel u. Find” ist eine korrelative Schnittstelle für Licht und Elektronenmikroskope und liefert eine direkte Weise, die Vorteile der Lichtmikroskopie mit den umfangreichen Funktionalitäten der Vorderkantescannenelektronenmikroskope, z.B. Energie Dispersionsröntgenstrahlspektroskopie zu kombinieren.


Die Schlüsselelemente ...

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN™
Analytische Energie für die Vor-Nanometer Welt

- Nano Analytics
- Gesamtinformationen
- Mühelosigkeit des Gebrauches
- Zukunft zugesichert

MERLIN™ - Analyse und hohe Entschließung in einem
Das MERLIN FE-SEM überwindt den Konflikt zwischen Bildentschließung und analytischer Fähigkeit. Der Kern von MERLIN ist die erhöhte Spalte der ZWILLINGE ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit variablem Druck (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - vorgerückte analytische Mikroskopie - jetzt vorhanden mit VP Technologie

Das SIGMA, GEMINI® Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Resultate von einem Feldemissionmikroskop.

Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Exemplars vorhanden. Es ist mit einem Reichtum ...

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EsB (In-column)  ULTRA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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Das ULTRA FESEM, basiert auf dem SUPRA%uF0D4 FESEM enthält eine hohe Leistungsfähigkeit, ultra hohen Entschließung In-Spalte EsB-Detektor, der nano-einstufen kreative BSE-Darstellung ermöglicht. Der vorgewählte umgekehrte Detektor der neuentwickelten (EsB) Energie stellt die spätesten Entwicklungen des berühmten GEMINI®technology dar. Enthält ULTRA den GEMINI® In-Objektiv Se-Detektor für klare topographische ...

MTI Instruments
Miniatur-Zug- und Druckprüfmaschine für Rasterelektronenmikroskop (SEM) MTI Instruments
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MTII erwarb vor kurzem die Fullam Marke der dehnbaren, Kompressions- und Schlaufenprüfungsminimaschinen, die spezifisch für Gebrauch in scannenelektronenmikroskopen bestimmt waren (SEMs), der Atomkraft-Mikroskope (AFMs) und der hellen Mikroskope (LMs). Der Doppelleadscrew Entwurf lädt symmetrisch Proben beim Halten sie zentriert innerhalb des Blickfeldes des Bereichs. die 100 und 1000-lbs-Versionen ...

MAPNER
Drehkolbengebläse  max. 25 000 m3/h, max. 1 bar | SEM series MAPNER
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Die Kolbengesellschaftsgründung der trilobular Konfiguration, vereinigt spezifisch zur Konfiguration des Eingangsdüsengehäuses erlaubt toobtain eine progressive Kompression, infolgedessen eine beträchtliche Verkleinerung vom Anfangspulsiereneffekt Pul.
Das Grundmodell dieses Entwurfs mehr über erzeugt eine Frequenzzunahme, Pendelbewegung so verringern und die Wirksamkeit des Auspuff Schalldämpferrahmens ...

Jeol
Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-6701F Jeol
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Das JSM-6701F ist ein Feldemission-Rasterelektronenmikroskop (FESEM) eine kalte Kathodenfeldemissiongewehr, ultra ein hohes Vakuum und verfeinerten Digitaltechniken für hohe Entschließungqualitätsdarstellung der Mikrostrukturen enthalten. Eine konische F.E.-Gewehr und ein Halb-inobjektiv objektives Objektiv kennzeichnend, ist das System zur hohen Entschließungdarstellung sowie Qualitätsrealzeitbildanzeige ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7500F Jeol
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Das JSM-7500F ist eine analytische Feld-Emission SEM, die erhöhte Leistung, Benutzerfreundlichkeit und Energieeffizienz kennzeichnet. Das JSM-7500F bietet die höchste Entschließung am niedrigsten KV aller möglicher SEM an, die vorhanden sind und erzielt eine Entschließung von 1.4 Nanometer bei 1 KV. Das JSM-7500F liefert Inobjektiv Leistung (1.0nm an 15kV) aber kann Proben bis zu 200mm in der Höhe ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  JSM-7001F Jeol
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Das JSM-7001F, thermische Feld-Emission SEM, ist die ideale Plattform für das Verlangen der analytischen Anwendungen sowie die, die hohe Entschließung und Benutzerfreundlichkeit erfordern. Das JSM-7001F hat ein großes, eine Mittellinie 5, völlig eucentric, motorisiertes, automatisiertes ein Exemplarstadium, ein Eintätigkeit Exemplaraustauschluftventil, kleinen Prüfspitzendurchmesser sogar an der großen ...

Angstrom Advanced
Rasterelektronenmikroskop (SEM)  AIS2300 Angstrom Advanced
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Angstrom-SEM ist ein zutreffendes Vielzweck-, Multibenutzerinstrument. Er übertrifft in der vielseitigen Verwendbarkeit und in der Flexibilität, indem er leicht Hochleistungs- in allen SEM-Modi u. kombiniert Partikel, die vom Betrieb in einer materiellen Forschungsmultibenutzerumwelt Gegen sind. Dieses Instrument kennzeichnet eine vollkommene Balance zwischen beständiger Konfiguration und einer ausgezeichneten ...

OMICRON
Rasterelektronenmikroskop (SEM) OMICRON
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Die in-situkombination von STM, von SEM und von SAM für hohe strukturelle und chemische Analyse der Entschließung stellt ein überlegenes Forschungswerkzeug her. Atomentschließung STM wird ideal durch die Fähigkeiten der SEM zum Bild große Flächen ergägenzt, Hilfe, Interessengebiete zu identifizierenen und schließlich die exakte Positionierung der STM-Spitze zum gewünschten Punkt auf die Oberfläche ...

Obducat CamScan
Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  Apollo 300 Obducat CamScan

Apollo 300

Thermal Field Emission Scanning Electron Microscope designed to cover a wide range of applications that require ultra high-resolution performance. The Apollo 300 Operates up to 30kV and incorporates through-lens detection for enhancing low kV operation.

Rasterelektronenmikroskop (SEM) Obducat CamScan
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CS3100

X u. y-Bewegung
100mm x 100mm

Kathoden-Wahlen
Wolfram

SEI Entschließung
<3.5nm @ 30kV

Beschleunigende Spannung
30kV

CS3200

X u. y-Bewegung
100mm x 100mm

Kathoden-Wahlen
Wolfram (Eich-mass)
LaB6 (Wahl)

SEI Entschließung
<3.5nm @ 30kV (W)
<2.5nm @ 30kV (LaB6)

Beschleunigende ...

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit EsB (In-column) Obducat CamScan
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Eich-masse 500 Modelle
X500S Wolframkathode
X500FE Schottky Feld-Emission

Modell
X500S X500FE
Kathodenwahlen
Wolfram-(W) Schottky F.E.
SEI Entschließung an
Hohes Vakuum.
<3.5nm @ 30kV <1.5nm @ 25kV
Beschleunigende Spannung
40kV Eich-mass
50kV Wahl 25kV Eich-mass
Wahl 30kV

SYNBIOSIS
Software für Rasterelektronenmikroskop (SEM)  ProtoCOL SYNBIOSIS
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Jedes Protokollsystem kommt mit der neuen Software des Protokolls 2. Diese Software holt vorgerückte Niveaus der Steuerung und der Funktionalität zu allen Anwendungen.

Die Software des Protokolls 2 ist auch als alleinstehendes Paket vorhanden, das mit einem Schreibtisch oder Laptop PC benutzt werden kann. Dieser externe PC kann an das Protokoll 2 angeschlossen werden - zählen Sie NPC oder ...

SEM Limited
AC-Elektromotor: Asynchronmotor SEM Limited
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Asynchrone Motoren

Unter Verwendung der spätesten Induktionsbewegungstechnologie sind erfahrene Entwurfsmannschaft SEMS in der Lage, Induktionsbewegungsleistung zu optimieren, um einzelnen kundenspezifischen Anforderungen zu entsprechen.

Ob die Anforderung für spezielle mechanische Einschließung, niedrige Erschütterung oder Hochgeschwindigkeitsbetrieb ist, können SEM einen asynchronen ...

Elektromotor: Asynchron-Spindelmotor  ASM series SEM Limited
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ASM Reihen asynchrone Spindelmotoren haben durch Laminierung gezwungene Ventilation für hohe Ausgangsleistungs- und kompakte Größe. Präzision Kurzschlußaufbau und das begrenzte Ausgleichen stellt glatten Betrieb und leisen Betrieb für hohe Ende Werkzeugmaschine Spindelanwendungen zur Verfügung oder Haupt-fährt Motoren für alle Arten automatisierte Maschinerie.

Elektromotor: Bürstenloser AC-Servomotor  3 - 67 Nm, 1 900 - 6 000 rpm | HJ series SEM Limited
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Hohe Schwungkraft fährt &#8211; für erhöhte Stabilität mit niedrigen Geschwindigkeiten

HJ Reihen Wechselstrom-Servomotoren haben die hohen Schwungkraftrotoren zusammen mit größer als Standardwellen und Lagern, zum des ultra glatten Betriebes mit minimaler Erschütterung und Resonanz zu versorgen, wenn sie zu den hohen Trägheitslasten verbunden werden. Ideal entsprochen für Werkzeugmaschinenmittellinie ...

Copley Controls
Digitaler Servoregler für Schrittmotor  20 - 90 VDC, 5 Ic | SE2, SP2, SEM, SPM series Copley Controls
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Stepnet plus

20-90 VDC Digital-Antrieb für Steppermotoren

Steuermodi

- Indexer, Punkt-zu-Punkt, PVT
- Nockenbetätigt, übersetzend
- Position, Geschwindigkeit, Drehkraft
- In Position bringen [Microstepping]

Schnittstelle beherrschen

- EtherCAT
- CANopen
- ASCII, getrenntes Input/Output
- Stepperbefehle
- ±10V Position/Geschwindigkeit/Drehkraft
- ...

TMC
Schwingungsisolierte Plattform  STACIS® iX SEM-Base™ TMC
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SEM-Base
Aktive piezoelektrische Erschütterungs-Annullierung-Fußboden-Plattform
für Scannen-elektronische Mikroskope

STACIS® Ix ist aktives Annullierungfußboden-Plattformsystem der Erschütterung SEM-Base für Gebrauch mit scannenelektronenmikroskopen (SEMs) bestimmt. SEMs gehören zu den meisten empfindlichen hergestellten Werkzeugen der Erschütterung, und diese Präzisionsinstrumente ...

ERLO
Tischbohrmaschine  max. 120 mm | SEM series ERLO
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STANDARDausrüstung
- Gemeinsame kleine Spindel/Hauptstock und korrigierte Stahlzahnräder der Qualitäts, Verträge und in seiner Gesamtheit
- Automatischer Auszieher der Bandspulen
- Kleiner Spindelhauptsächlichkegel Morse, mit gewundener Nase und Nuss des Schutzes - justierbare Oberseite der Tiefe, Skalen in den Millimeter oder Zoll - Mallkissen mit vertikaler Versetzung
- Tabelle der ...

recherche-kwref www di De 2012-02-06-12