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Profilometer

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Bruker Elemental
Atomic Force-Profilometer Bruker Elemental

Dimension™ X automated atomic force microscope replaces costly, destructive cross-sectioning techniques, cutting etch measurement time from days to minutes, to help you increase yield without sacrificing quality.

The Dimension X is engineered to provide unequaled throughput of 25 WPH (five sites) and provides in-line repeatable metrology for the most difficult to measure etch features.

Bytewise Measurement Systems
Berührungsloser Profilometer  30 - 600 mm Bytewise Measurement Systems
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Das indirekte Straßenoberflächenmeßgerät (Straßenoberflächenmeßgerät) ist ein Instrument, das die Oberseite und Unterseite Profile der Gummireifenschritt- und -seitenwandstrangpresßlinge mißt. Das Straßenoberflächenmeßgerät wird in den Würfelgeschäften benutzt, um das Profil zu überprüfen und den Würfel für Produktion zu genehmigen. Das Straßenoberflächenmeßgerät wird auch auf dem Geschäft Fußboden ...

Berührungsloser Profilometer  60 - 600 mm | OLP Bytewise Measurement Systems
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Das on-line-Straßenoberflächenmeßgerät (?OLP?) ist ein Instrument, das Bytewise Profil-Sensoren verwendet, um das Oberseite und Unterseite Profil des beweglichen Strangpresßlings zu messen. OLP nimmt einen Profilscan, Gleiche es zu einer Designschablone, dann zeigt einen optischen Komparatorschirm zusammen mit Schlüsselmaßwerten an. OLP wird auf der Extruderlinie entweder nach dem Würfel verwendet ...

Laser-Profilometer  60 - 450 mm | SL Bytewise Measurement Systems
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Das Straßenoberflächenmeßgerät SL kombiniert die leistungsfähige und nachgewiesene Bytewise Profil-Projektor-Software, die lang in unserem indirekten Straßenoberflächenmeßgerät mit der Bytewise Blatt-von-Licht (?SL?) Sensortechnik benutzt worden ist, um ein Niedrigkosten Strangpresßlingprofil-Maßsystem anzubieten. Die SL Sensoren sind fixtured über und unter der Maßtabelle, damit sie die oberen und ...

RIFTEK
Laser-Profilometer RIFTEK
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Das Laser-Straßenoberflächenmessgerät wird für das Messen der geometrischen Parameter des Radflansches (Stärke, Steigung, Höhe), der Gummireifenstärke und für das Nehmen des vollen Profils der Radrollenoberfläche eingesetzt.
Ein Modul Laser-RF603, das innerhalb des Straßenoberflächenmessgerätgehäuses gesetzt wird, führt lineares Scannen der Radoberfläche durch, die durch ein Mini-Stepper gefahren ...

Nanosurf
Rasterkraftmikroskop (AFM) für Integration in Mikroskope und Profilometer  LensAFM Nanosurf
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Nanosurf LensAFM — A leistungsfähiger Zusatz zu den optischen Mikroskopen oder zu den Straßenoberflächenmeßgeräten 3D

Das Nanosurf LensAFM ist ein Atomkraftmikroskop, das anstatt eines normalen objektiven Objektivs auf fast jedem optischen Mikroskop oder Straßenoberflächenmeßgerät benutzt werden kann. Es verlängert groß die Auflösung und die messenden Fähigkeiten dieser Instrumente. Das ...

4D Technology
Optischer Profilometer für die Messung von Oberflächenebenheit und -rauheit  NanoCam Sq 4D Technology
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Das NanoCam, das Quadrat ist, verwendet dynamisches Interferometry® und schneller enthält einen optischen diesen Hochgeschwindigkeitssensor Maßtausenden typischen Auswerteprogramme der Zeiten der als. Weil Erwerbszeit so kurz ist, das NanoCam Quadrat-Dosenmaß trotz der Erschütterung, es möglich machend, das Instrument in Polierausrüstung, an den Böcken oder an den Robotern anzubringen. Diese Freiheit ...

Zygo
Berührungsloser Profilometer für die Messung der Oberflächenebenheit  NewView™ 7100 Zygo
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Das NewView 7100 Interferometer des weißen Lichtes liefert erschwingliche vielseitige Verwendbarkeit im berührungsfreien Oberflächenprofilieren. Mit leistungsfähigen Werkzeugen für die Charakterisierung und die Quantitativbestimmung von Oberflächenrauheit, von Schritthöhen, von kritischen Maßen und von anderen topographischen Eigenschaften mit ausgezeichneter Präzision und Genauigkeit, sind alle Maße ...

Panasonic Factory Automation Company
Atomic Force-Profilometer  max. 200 mm | UA3P series Panasonic Factory Automation Company

The Panasonic UA3P profilometer series is designed to measure aspherical lenses & molds, semiconductor wafers, and any other precision component requiring nanometer level accuracy ranging up to 200mm x 200mm. Different machine models are available to meet your optical & high aspect ratio metrology needs.

The UA3P-300, UA3P-4 and UA3P-5 all offer users the accuracy of AFM technology ...

Atomic Force-Profilometer  UA3P-L Panasonic Factory Automation Company
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Straßenoberflächenmessgerät Panasonic-UA3P-L

Das eben eingeführte UA3P-L misst die vertikalen Wandoberflächen der Gegenstände und die Innenoberfläche der Mikronniveau Löcher. Die Anwendungen, die hohe Längenverhältnis-Metrologie (SCHADEN) erfordern, wie Kraftstoffeinspritzdüseöffnungen, Mikro--sortierten Zahnräder, und Halbleitereigenschaftsmuster können aller Nutzen von diesem Straßenoberflächenmessgerät.

Das ...

Chroma Ate Europe
Optischer Profilometer Chroma Ate Europe
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Optisches Auswerteprogramm 3D des Modell-7503

* Bis 0.1 Nanometer-Höhenentschließung für Maß
* Störungs-Maßtechnik des weißen Lichtes verwenden, um zerstörungsfreies und schnelles Oberflächenbeschaffenheitsmaß und -analyse zu tun
* Modulized Entwurf zum Vorwählen die Teile basiert auf Testnachfragen oder Etatinteressen
* Arbeit mit der Farben- oder Monochromkamera, ...

Ophir Optronics
Berührungsloser Profilometer  ConoScan 2000 Ophir Optronics
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ConoScan 2000
Berührungsfreies Straßenoberflächenmessgerät
Das Conoscan 2000 ist, 2-D berührungsfreies Straßenoberflächenmessgerät des Portable ein modulares. Ein Rotationsarm des Schwenkers 180° ermöglicht Profilmaßen eines Gegenstandes während des Produktionsprozesses, ohne den Gegenstand von der Verarbeitungsmaschine zu entfernen. Auswechselbare Objektive des Sensors bieten unten Präzision ...

Solarius
Berührungsloser Profilometer für die Messung der Oberflächenebenheit  Viking Solarius
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Das berührungsfreie Straßenoberflächenmessgerät Wikinger für das erschwingliche Lasermessen

Solarius Entwicklung führt ein neues preiswertes berührungsfreies Laser-Straßenoberflächenmessgerät, Wikinger ein. Das Werkzeug ist entworfen, um mittlere Streckengenauigkeitsbedürfnisse unter Verwendung der Entwicklungssensortechnik zu erfüllen, 3 dimensionallagepläne zu erzeugen. Wenn er den Wikinger ...

recherche-kwref www di De 2012-02-06-11