Mikroskope für Halbleiter

Brauchen Sie Hilfe bei der Entscheidung?  Lesen Sie unseren Einkaufsführer
9 Firmen | 19 produkte
Stellen Sie Ihre Produkte aus

Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort

Aussteller werden
Search
{{#pushedProductsPlacement4.length}} {{#each pushedProductsPlacement4}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement4.length}}
{{#pushedProductsPlacement5.length}} {{#each pushedProductsPlacement5}}
{{product.productLabel}}

{{product.productLabel}} {{product.model}}

{{#if product.featureValues}}
{{#each product.featureValues}} {{content}} {{/each}}
{{/if}}
{{#if product.productPrice }} {{#if product.productPrice.price }}

{{product.productPrice.formattedPrice}} {{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE" }} - {{product.productPrice.formattedPriceMax}} {{/if}}
{{/if}} {{/if}}
{{#if product.activeRequestButton}}
{{/if}}
{{product.productLabel}}
{{product.model}}

{{#each product.specData:i}} {{name}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/end}} {{/each}}

{{{product.idpText}}}

{{productPushLabel}}
{{#if product.newProduct}}
{{/if}} {{#if product.hasVideo}}
{{/if}}
{{/each}} {{/pushedProductsPlacement5.length}}
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
Raster-Transmissions-Elektron-Mikroskop
SU9000II

Vergrößerung: 3.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,8, 0,4, 1,2 nm

... Die Cold Field Emission-Quelle ist ideal für die hochauflösende Bildgebung bei geringer Quellengröße und Energieverteilung. Die innovative CFE-Kanonen-Technologie trägt zum ultimativen FE-SEM mit überragender Strahlhelligkeit und -stabilität ...

Rasterelektronenmikroskop
Rasterelektronenmikroskop
SU series

Vergrößerung: 5 unit - 800.000 unit
Räumliche Auflösung: 15, 4, 3 nm

... Leistung und Power auf einer flexiblen Plattform Die Rasterelektronenmikroskope SU3800/SU3900 von Hitachi High-Tech bieten sowohl Bedienbarkeit als auch Erweiterbarkeit. Der Bediener kann viele Vorgänge automatisieren und ihre hohe Leistung ...

STEM-Mikroskop
STEM-Mikroskop
HF5000

Vergrößerung: 20 unit - 8.000.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,08, 0,1 nm

... Hitachis einzigartiges, aberrationskorrigiertes 200-kV-TEM/STEM: die perfekte Harmonie von Bildauflösung und analytischer Leistung 0.die räumliche Auflösung von 078 nm im STEM wird zusammen mit einer hohen Probenschwenkbarkeit und einem ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
MX63 series

Räumliche Auflösung: 1 µm

... auszuwählen, die Sie benötigen, um das System an Ihre Anwendung anzupassen. Diese ergonomischen und benutzerfreundlichen Mikroskope tragen dazu bei, den Durchsatz zu erhöhen und den Inspektor bei seiner Arbeit komfortabel ...

opto-digitales Mikroskop
opto-digitales Mikroskop
MVM

Das neue „Machine Vision Microscope“ (MVM) ist ein rein digitales Mikroskop mit allen Eigenschaften, die ein Mikroskop ausmachen. Es verfügt über ein apochromatisch hochkorrigiertes Mikroskopobjektiv ...

Mikroskop für die Metallurgie
Mikroskop für die Metallurgie
DS series

... und POL für die Mehrfachanalyse ausgestattet. Inverses Mikroskop der Einstiegsklasse für allgemeine Anwendungen zur Härteprüfung. Inverses Mikroskop für Industrie und Materialwissenschaft, speziell entwickelt ...

optisches Mikroskop
optisches Mikroskop
ZTX-S series

... ZTX-S Serie Zoom-Mikroskop nimmt optische Bildgebung System, mit hoher Auflösung, feine Definition und starken Sinn für dreidimensionale, einfache Bedienung.Das Mikroskop ist weit verbreitet in der ...

Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
Feldemissions-Rasterelektronen-Mikroskop
JSM-F100

Vergrößerung: 10 unit - 2.740.000 unit
Räumliche Auflösung: 0,9, 1,3 nm

... JSM-F100 Schottky-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop Das JSM-F100 verfügt nicht nur über unsere hochgeschätzte In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenkanone und "Neo Engine" (elektronenoptisches Kontrollsystem), sondern auch ...

Rastersondenmikroskop
Rastersondenmikroskop
Dimension XR

Räumliche Auflösung: 0 nm - 100 nm

... Extreme Forschungssysteme für Nanomechanik, Nanoelektrik und Nanoelektrochemie In den Dimension XR Rastersondenmikroskop-Systemen (SPM) von Bruker stecken Jahrzehnte der Forschung und technologischen Innovation. Mit routinemäßiger atomarer ...

Polarisationsmikroskop
Polarisationsmikroskop
ECLIPSE LV100N POL

Gewicht: 17 kg
Länge: 490 mm
Breite: 251 mm

... unter Verwendung einer ganzen Reihe von speziellem Zubehör. Ci-POL ermöglicht eine Reihe von Studien mit einem kompakten Mikroskop. Nikon ECLIPSE LV100N POL und Ci-POL Diese Geräte haben eine episkopische und diaskopische ...

Die anderen Produkte ansehen
Nikon Metrology
Mikroskop für Analyse
Mikroskop für Analyse
SAM 400

Das SAM 400 ist ein Ultraschall-Rastermikroskop, das für Qualitäts- und Prozesskontrolle, sowie Forschungs-anwendungen entwickelt wurde. Es weist eine neue wartungsfreie Hochgeschwindigkeits-Plattform und neue Hochfrequenz- und Transducer-Technologien ...

Die anderen Produkte ansehen
PVA TePla Analytical Systems GmbH
Stellen Sie Ihre Produkte aus

Erreichen Sie das ganze Jahr über neue Kunden an einem einzigen Ort

Aussteller werden