Verdunkeln Sie Reihe des Mikroskops L300 für großes ? awless Kontrolle von LCDs und von Oblaten
Zusammengebaut für 300mm Oblate- und Schablonenkontrolle, erfüllt die Reihe der Eklipse-L300 auch die Notwendigkeit flache Verkleidung Anzeige an der Hinterkontrolle, die die Kontrolle von LCDs einschließt. Die Reihe L300 verwendet Nikon eigenes optisches System CFI60, anbietende hohe Auflösung, Kontrast ...
Kombiniert mit Nikons überlegenem CFI60 LU/L optischem System und einem außerordentlichen neuen Ablichtung System, versieht dieses Mikroskop Bilder mit grösserem Kontrast, Höhe Auflösungsvermögen und darkfield Bildern dreimal heller als vorher. Unabhängig verwendet oder im Verbindung mit Oblateladevorrichtungen, führt die Reihe L200 außergewöhnlich exakte optische Kontrolle der Oblaten, der Fotoschablonen, ...
Die vorgerückte Optik, die digitalen Fähigkeiten und die Modularbauweise der Reihe Mikroskope der Eklipse-LV150 erlaubt ein beispielloses Niveau der vielseitiger Verwendbarkeit und der Flexibilität, die ihnen ermöglicht, eine breite Vielzahl der Produkte und der Anwendungen, die von der Entwicklung verlängern und Qualitätskontrolle zu umfassen auf Herstellung Kontrolle. Diese Mikroskope liefern großartige ...
Doppelfeld C-Bringen Zielsetzungen an
Doppelfeldzielsetzungen werden verwendet, wo zwei verschiedene lineare Wiedergaben eines Gegenstandes schnell gleichzeitig kontrolliert werden müssen. Diese Lösung bietet einigen Nutzen über laut summen-gegründeten Systemen einschließlich an: A) die Beseitigung der ändernden Beseitigung der Zeiten der linearen Wiedergabe B) von Ungenauigkeiten im in Position ...
Beweglicher Fußboden-Standplatz
Lineare Wiedergabe: 4x - 25x
Blickfeld: 9.2 Millimeter - 58.4 Millimeter
Funktionsabstand: 148.2 Millimeter
Spitzenstereomikroskop mit 6:1lautem summen
Binokularer Schlauch mit Okularen 10x
LED-Lichtquelle mit flexiblen hellen Führern
Geneigte fokussierenmaßeinheit von vertikalem zum horizontalen Gebrauch
Spaltenhöhe ...
Momic Systeme
Dieser Vertrag und robuste videosummenmikroskop ist ein kosteneffektives bewegliches System für am Ort der Oberflächen messen und Unterlagen. Einfach zu ändern erlauben Adapter den Gebrauch fast jeder möglicher SLR Kamera sowie irgendein C-Anbringen Kamera.
Dieses völlig bewegliche Mikroskop kommt mit einem robusten Standplatz, der von der Legierung und von Edelstahl bewilligen ...
EIGENSCHAFTEN
- Das komplette System von FS-300 kann aus einer Vielzahl der Teile für verschiedene Anwendungen der Sitzung bestehen.
- Vorhanden mit oder ohne eine übertragene Belichtungseinheit.
- Ultra-lange Funktionsabstandszielsetzungen liefern einfache Handhabung der Werkstücke.
- Einfache Schaltung zwischen hell-fangen Ablichtung auf und Ablichtung dunkel-auffangen.
- Wahlweise ...
EIGENSCHAFTEN
Winkelmaß wird leicht vorbei durchgeführt
Drehen der Winkelskala, um das Fadenkreuz auszurichten
Fadenkreuz mit dem Werkstückbild.
Ablichtungsintensität kann justiert werden.
Technische Daten
Beobachtungsbild: Aufgerichtetes Bild
Optischer Schlauch: Monocular (Diopter justierbar)
Tiefstandwinkel: 30˚
Fadenkreuz: 90˚ defektes ...
In der Maschine Soem-Mikroskopmaßeinheit bevollmächtigt durch moterized Nosepiece mit metallurgischen Zielsetzungsobjektiven für irgendeine Mikrokontrollenmaschine als wie Oblatekontrolle, MEMS Kontrolle, LCD-Kontrolle und so weiter.
Erhöhte Beobachtungsleistung
Erhöhte Klimabetrachtung und Betrieb
Verbesserte Funktionalität zwischen dem Mikroskop und den Digitalkameras
Erhöhte Beobachtung, Haltbarkeit und Betriebsleistung, kombinierte mit vorgerückter Funktionalität
Verbesserte Funktionalität zwischen dem Mikroskop und den Digitalkameras liefert ideale Darstellung
Koaxialablichtungs-optisches Handmikroskop für Faser-Kontrolle
Die FM-C-Reihen Mikroskope verwenden Koaxialablichtung, um Benutzer mit maximalem Detail zu versehen. Es kann die feinsten Kratzer und die Verschmutzung leicht ermitteln und es Ideal für polnische Qualität kritisch kontrollieren bilden.
Anwendungen
* Der Steckschnürs (Mann) der Faserverknüpfung kontrollieren ...
Ist video Mikroskop des Toolmaker VTM-1510 ein photoelektrisches Messverfahren der hohen Präzision und der Leistungsfähigkeit. Es ist in den verschiedenen Arten der weiterverarbeitenden Industrien der Präzision, wie elektronisches Teil, Präzisionsform, Präzision .tool, Frühlingsplastik, Gummi, Öldichtungswert, Kamerateil, Pedalzyklusteil und PWB-Verarbeitung am meisten benutzt. Es wird hauptsächlich ...
Entwarf, die feinsten elektronischen Spuren unter Verwendung sogar zu lokalisieren und zu kontrollieren
feinere elektronische Prüfspitzen, A-Zoom2 bietet optische Summenstrecken bis zum 40:1 an
mit der numerischen Blendenöffnung fähig zum Lösen von Eigenschaftsgeometrie in
Submikronstrecke.
- auserwählt von 10X (10: 1) und 40X (40: 1) wählen Modelle A-Zoom2 mit großer Auswahl ...
Das VDM-E/Z ist mit zwei auswechselbaren Optikwahlen vorhanden:
- Patentierte ausgedehnte Schärfentiefe (EEF) Zielsetzung mit Aufmittellinie Beleuchtung
- Summen-Zielsetzung mit Faser Optikringlight und Zusatzobjektiven
Das System ist mit Faseroptikbeleuchtung komplett und ist vorhanden mit einigen Wahlen, seine vielseitige Verwendbarkeit zu erhöhen. Wenn es kleine Teile ...
Eigenschaften:
Das flache Rasterzerstreuungselement wird, mit den freien und hellen Spektrumlinien und hohem Entschließungverhältnis angenommen.
Mit einer großen Geschwindigkeit hat die Spektralanalyse keine Schäden der Maschinenmitglieder.
Dieses Instrument ist hell und der Portable, einfach zu tragen, bequem für Gebrauch und Stall im Eigentum.
Dieses Instrument ist für die Materialverbrauchsanalyse ...
JX14B Digital großes Werkzeug-Mikroskop
Es kann die Größe, Winkel, Form und Position der verschiedenen Werkstücke genau messen und verschiedene Parameter des externen Gewindes. Diese Maschine ist Klage für die Anwendung in messendem Raum, in Kontrollenstation, in Hochschulen und in Universitäten zusammen mit Wissenschaft
Forschungsinstitut von denen Herstellung, wie Maschinerie, exaktes ...
Kleines CCD gründete das Mikroskop, zusammengebaut für PC- oder Videodarstellung, ideales für Kontrolle, Ausfalanalyse und Qualitätskontrolleanwendungen.
Industrielle SMD Kontrollsysteme durch Meiji Techno sind spezifisch für die Untersuchung der Lötmittelanschlüsse der Oberfläche angebracht bestimmt oder der Durchloch Bestandteile an den gedrucktes Leiterplatten aber können für eine große Vielfalt der Kontrollenanwendungen verwendet werden.
Entworfen um die EMZ Summenstereokörper, Meiji SMD sind Kontrollsysteme für die Untersuchung oder ...
Das XE-WAFER ist ein völlig automatisiertes industrielles Flughandbuch, das spezifisch entworfen ist, um Oberflächenrauheit, Grabenbreite, Tiefe und Winkelmaße auf 200mm u. 300mm den Oblaten in einer Produktionsumwelt zu adressieren. Das System liefert überlegenes Genauigkeit und Präzision nanometrology als irgendwelche im Markt heute. Die höchste Entschließung und den niedrigsten Lehrensigmawert, ...
Vorhanden im Handbuch und IN DEN CNC-Versionen
völlig vielseitig begabtes messendes Mikroskop "SIPON" der hohen Präzision
Kontakt, Maße der Tiefe der hohen Präzision nicht erlauben (Schritt) durch parafocal Zoomobjektiv der hohen Entschließung
