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ICP-OES-Spektrometer
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Breite: 76 cm
Höhe: 87 cm
... Avio 560 Max ICP-OES gehören: Das integrierte HTS-Probeneinführungsmodul verkürzt die Laufzeiten von 1,5 Minuten auf 30 Sekunden Flat Plate™-Plasmatechnologie liefert ein robusteres, stabileres Plasma, ...
PerkinElmer
Wellenlänge: 189 nm - 455,4 nm
... Das induktiv gekoppelte Plasma-Emissionsspektrometer EXPEC-6000 ist ein klassisches Vollspektrum-ICP-OES-Produkt mit Direktablesung. Es integriert eine hochzuverlässige RF-Stromversorgung, ein stabiles ...
... Das induktiv gekoppelte Plasma-Emissionsspektrometer EXPEC-6500 arbeitet mit einer neu entwickelten vertikalen Brenner-Doppelbeobachtungstechnologie, mit der Elemente mit relativ großen Inhaltsunterschieden in einer komplexen Matrix gemessen ...
... Das ICP-5000 ist ein direkt ablesbares ICP-OES-Produkt (Induktiv gekoppeltes Plasma Optisches Emissionsspektrometer) mit vollem Spektrum, das von FPI selbst entwickelt wurde. Es bietet ...
... Das Agilent 240FS AA ist ein Fast-Sequential-Atomabsorptionsspektrometer, das die Probenmenge verdoppeln und die Betriebskosten drastisch senken kann. Das Agilent 240FS AA kann problemlos mit Multielement-Suiten umgehen und ist ideal ...
... Kosteneffektivität und Robustheit der klassischen Atomabsorptionsspektrometrie (AAS) und die Flexibilität und den Probendurchsatz der ICP-Techniken in Ihr Labor. Höchste Präzision, schnelle Prozesse und komfortable Bedienung ...
... Plasmaleistung. Einzigartige Nachweisgrenzen setzen ein einzigartiges Spektrometer voraus. Ergebnisse, auf die Sie sich verlassen können Die Spurenanalyse in hochkonzentrierten Proben mittels ICP-OES ...
Wellenlänge: 130 nm - 770 nm
... induktiv gekoppeltem Plasma (ICP-OES) neu definiert ÜBERBLICK as neue Dual Side-On Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität Ein ...
Wellenlänge: 165 nm - 770 nm
Das SPECTROGREEN ICP-OES ist in drei Modellvarianten erhältlich: Revolutionäres Dual Side-On Interface (DSOI), Twin Interface (TI) und Side-On Plasmabetrachtung (SOP) ÜBERBLICK Neue, revolutionäre ...
Wellenlänge: 175 nm - 770 nm
... Das neue SPECTRO GENESIS ICP-OES: umfangreich verbessert mit neuem, kompaktem Design und modernster Technologie – der „Goldstandard“ unter den Spektrometern für die Routine-Analytik. Das einfach ...
... Mit dem induktiv gekoppelten Plasmaspektrometer ICP-2000 können etwa 70 Spurenelemente bis hin zu konstanten Elementen in verschiedenen Materialien nachgewiesen werden. Sie sind weit verbreitet in wissenschaftlichen Forschungsinstituten, ...
... Das induktiv gekoppelte Plasmaspektrometer ICP-2060P findet breite Anwendung in wissenschaftlichen Forschungsinstituten, Universitäten und anderen Industrieunternehmen in Bereichen wie Geologie, Metallurgie, Seltene Erden, ...
... - Über 70 Elemente können gemessen werden - Stabilisiertes optisches Echelle-System - Hervorragende Nachweisgrenzen, im ppb-Bereich für die meisten Elemente - Großer linearer Dynamikbereich, von ppb bis Prozent - Echtzeit-Betriebsüberwachung ...
Wellenlänge: 165 nm - 900 nm
Wellenlänge: 120 nm - 800 nm
... Das Ultima Expert ICP OES Spektrometer ist eine einzigartige Kombination aus höchster Leistung und umfassenden Hilfswerkzeugen, die die Methodenentwicklung vereinfachen. Ultima Expert ...
HORIBA Scientific
Die simultanen ICP-Atomemissionsspektrometer der ICPE-9800 Serie sind Systeme der nächsten Generation, die durch ihre hohe Genauigkeit gleichzeitig und schnell mehrere Elemente analysieren können, unabhängig von ihrer ...
Wellenlänge: 135 nm - 1.100 nm
... vereint die neueste Halbleiterdetektortechnologie mit dem fortschrittlichen hochdispersiven Echelle-Spektrometer von Leeman Labs, um das leistungsfähigste ICP zu liefern, das derzeit erhältlich ist. Prodigy ...
Teledyne Leeman Labs
... Das induktiv gekoppelte Plasma-Einkanal-Atomemissionsspektrometer Typ JB-1000 ist ein großes Präzisions- und Analyseinstrument, das Licht, Maschine, Elektrizität und Computer in sich vereint. Es kann mehr als siebzig Elemente messen, ...
Wellenlänge: 190 nm - 500 nm
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