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Mikroskop

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Enwave Optronics
Raman-Mikroskop  µSense-N Enwave Optronics
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Enwaves µSense-N Raman-Mikroskop stellt die beste Wahl der niedrigen Kosten für mikroskopische Raman-Maße zur Verfügung, ohne Leistung und Qualität zu opfern. Das System ist bedienungsfreundlich und für Ihre Routineraman-Mikroskopieanwendungen zuverlässig.

Das kosteneffektivste Raman-Mikroskop

Enwaves µSense-N Raman-Mikroskope sind für verschiedenen Academic, Forschung und industrielle ...

Raman-Mikroskop  µSense-Lab Enwave Optronics
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Enwaves SenseLaborHochleistungs--Raman-Mikroskop-System stellt Hochleistungs- mikroskopische Raman-Maße zu einem erschwinglichen Preis zur Verfügung. Die Systeme sind bedienungsfreundlich und für Ihre Routineraman-Mikroskopieanwendungen zuverlässig.

Enwaves SenseLaborreihe Raman-Mikroskope sind für verschiedenen Academic, Forschung und industrielle Laboranwendungen ideal. Diese Raman-Mikroskope ...

Raman-Mikroskop  µSense-I/L Enwave Optronics
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Enwaves µSense-I/L Hochleistungs--Raman-Mikroskop-System stellt Hochleistungs- mikroskopische Raman-Maße zu einem sehr konkurrenzfähigen Preis zur Verfügung. Die Systeme sind bedienungsfreundlich und für Ihre Routineraman-Mikroskopieanwendungen zuverlässig.

Das kosteneffektivste Raman-Mikroskop

Enwaves µSense-I/L Reihe Raman-Mikroskope sind für verschiedenen Academic, Forschung und ...

Carl Zeiss MicroImaging
Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Materialanalyse Carl Zeiss MicroImaging
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Korrelative Mikroskopie

“ Doppelventilkegel u. Find” ist eine korrelative Schnittstelle für Licht und Elektronenmikroskope und liefert eine direkte Weise, die Vorteile der Lichtmikroskopie mit den umfangreichen Funktionalitäten der Vorderkantescannenelektronenmikroskope, z.B. Energie Dispersionsröntgenstrahlspektroskopie zu kombinieren.


Die Schlüsselelemente ...

Photon Technology International
Fluoreszenz Lifetime Imaging Mikroskop  max. 990 nm | TimeMaster™ Photon Technology International
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TimeMaster PTIS Lebenszeit-Mikroskopiesystem (TM-5) ist ein einzigartiges Mikroskop-gegründetes Fluoreszenzlebenszeitspektrometer. Das TM-5 stellt unübertroffene Wellenlängeabdeckung von 240 Nanometer (die Frequenzverdoppler Wahl erfordert) bis 990 Nanometer zur Verfügung. Bilden sehr intensive Impulse es Ideal für schwache Proben, während die niedrige Wiederholungsrate Fotozerfall verhindert. Das ...

Fluoreszenz Lifetime Imaging Mikroskop  EasyRatioPro Photon Technology International
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EasyRatioPro
EasyRatioPro mit Verzerrung-Antrieb! PTI gelangt zurück an es ist die Völker und bietet eine vollständig neue revolutionäre Benutzerschnittstelle für die Ansammlung und Analyse der ratio-metric Darstellungdaten für Kalzium, pH und intrazelluläre Ionendarstellung an!

EasyRatioPro ist das kompletteste System seiner Art, EasyRatioPro Angebote großartigen Qualität der Darstellungforscher ...

ISS
Fluoreszenz Lifetime Imaging Mikroskop  Alba FLIM ISS
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Alba FLIM ist ein computergesteuertes Instrument, das spezifisch für confocal Darstellunganwendungen entweder unter Verwendung der single- oder Multi-photonerregung bestimmt ist. Die Modularbauweise des Instrumentes erlaubt, dass es leicht verbessert wird, um Fluoreszenz-Wechselbeziehung-Spektroskopiedaten (FCS) zu erwerben. Außer seinen attraktivsten Eigenschaften wie hoher Empfindlichkeit und schnelle ...

Thermo Scientific - Scientific Instruments
Raman-Mikroskop Thermo Scientific - Scientific Instruments
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DXR Raman Mikroskop
Das Thermo wissenschaftliche DXR Raman Mikroskop versieht Punkt-und Eintragfaden Raman-Mikroskopie mit außergewöhnlicher Empfindlichkeit und räumliche Entschließung für Arbeitsanwendungen.
Das Thermo wissenschaftliche DXR Raman Mikroskop definiert vollständig das Raman-Mikroskop neu, damit es die Nachfragen der beschäftigten Labors befriedigt. Ohne Leistung zu opfern errichtet, ...

Carl Zeiss Nano Technology Systems
Helium-Ionen Mikroskop  ORION Carl Zeiss Nano Technology Systems
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ORION® PLUS
Weltrekord-Entschließung ändert Mikroskopieparadigma

Die Welt von Mikroskopie gerade geändert. Der Carl Zeiss SMT ORION® PLUS Helium-Ion-Mikroskop brach gerade den Weltrekord für Entschließung. Das ORION® PLUS Mikroskop liefert jetzt TEM-wie Entschließung, auf Massenproben, mit SEM-wie Benutzerfreundlichkeit. Dieser Durchbruch in der Entschließung setzt wirklich das ORION® ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  MERLIN Carl Zeiss Nano Technology Systems
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MERLIN™
Analytische Energie für die Vor-Nanometer Welt

- Nano Analytics
- Gesamtinformationen
- Mühelosigkeit des Gebrauches
- Zukunft zugesichert

MERLIN™ - Analyse und hohe Entschließung in einem
Das MERLIN FE-SEM überwindt den Konflikt zwischen Bildentschließung und analytischer Fähigkeit. Der Kern von MERLIN ist die erhöhte Spalte der ZWILLINGE ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop mit variablem Druck (VP FE-SEM)  ΣIGMA Carl Zeiss Nano Technology Systems
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SIGMA - vorgerückte analytische Mikroskopie - jetzt vorhanden mit VP Technologie

Das SIGMA, GEMINI® Technologie kennzeichnend liefert hervorragende Darstellung und analytische Resultate von einem Feldemissionmikroskop.

Das SIGMA ist jetzt mit variabler Drucktechnologie (VP) für außergewöhnliche Darstellung und Analyse des nicht leitfähigen Exemplars vorhanden. Es ist mit einem Reichtum ...

Hitachi High-Technologies Europe
Rasterelektronenmikroskop (SEM), Tischgerät  TM3000 Hitachi High-Technologies Europe
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Die folgendes Erzeugung TM3000 Tischplattemikroskopbauten auf dem Erfolg seines Vorgängers, dem TM-1000 und den Angeboten verbesserten erheblich Leistung, einschließlich lineare Wiedergabe bis bis 30,000x und zur besseren Entschließung, in einer Maßeinheit, die 20% weniger Raum besetzt und einen energiesparenden Entwurf hat. Das neue TM3000 ist ein Druck-Rasterelektronenmikroskop der Tischplatte variables, ...

Transmissionselektronenmikroskop (TEM) für biomedizinische Anwendungen  120 kV | HT7700 Hitachi High-Technologies Europe
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Das neue HT7700 120 KV-GetriebeElektronenmikroskop ist für biomedizinische Forschung und R&D für die pharmazeutischen, vorgerückten Materialien und Nanotechnologie bestimmt. Das revolutionäre HT7700 wird für hochauflösende Darstellung an den niedrigen Elektrondosen optimiert und wird eingestellt, um das Leben für Mikroskopierer mit Integration 100% aller Funktionen in die grafische Benutzerschnittstelle ...

Analytisches Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop (FE-SEM)  SU70 Hitachi High-Technologies Europe
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Wir sind stolz, unsere NEUE vielseitig begabte Lösung zu den analytischen Zwecken im Verbindung mit Ultra-Hoch-Entschließung und reichlichen Signal-Vorwählerfähigkeiten darzustellen.

Bruker Elemental
Rasterkraftmikroskop (AFM)  Dimension FastScan™ Bruker Elemental

The Dimension FastScan™ Atomic Force Microscope (AFM) delivers, for the first time, extreme imaging speed without loss of resolution, loss of force control, added complexity, or additional operating costs. Based upon the highly successful Dimension Icon® AFM architecture, the FastScan AFM is a tip-scanning system that provides measurements on both large and small size samples in air or fluids. Now, ...

Rasterkraftmikroskop (AFM) Bruker Elemental
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N8 ARGOS
N8 ARGOSAFM/SPM die leichte Art

Das N8 ARGOS ist ein Vertrag und in hohem Grade ein steifer Standplatz für das NANOS AFM/SPM System. Ausgerüstet mit einem ultra vertikalen Stadium der Präzision wird das Flughandbuch mit Nanometergenauigkeit genähert. Hoch entwickelte Algorithmen liefern eine glatte und leichte Prüfspitzenannäherung. Versehentliche Spitze zur Probe tritt innen ...

Rasterkraftmikroskop (AFM)  BioScope™ Catalyst™ Bruker Elemental

The BioScope™ Catalyst™ Atomic Force Microscope (AFM) with ScanAsyst™ provides uncompromised high-resolution optical imaging capability and thermally limited force measurements and features numerous hardware and software features that make it easier than ever to realize the unique benefits of combining atomic force microscopy and light microscopy. Bruker's exclusive Microscope Image Registration and ...

Phenom-World
Rasterelektronenmikroskop (SEM) (3D, Ra, Rz)  3D, Ra, Rz Phenom-World
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Mit der Rekonstruktionanwendung der Rauheit-3D ist der Phenom in der Lage, dreidimensionale Bilder und submicrometer Rauheitmaße zu erzeugen.

Diese völlig automatisierte Anwendung für das PhenomRasterelektronenmikroskop hilft, Darstellungresultate mitzuteilen und extrahiert und macht Daten normalerweise versteckt innerhalb einer Probe sichtbar.

3D
Darstellung 3D hilft, Beispieleigenschaften ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM) für die Faseranalyse  0.04 - 100 nm | Fibermetric Phenom-World
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Bessere, schnellere Faser-Analyse

Jetzt unmittelbare Beobachtung und Maß des Mikros und
nano Fasern ist schneller, besser und leicht als überhaupt vor, mit
die verbesserte Fibermetric Anwendung.

Im Verbindung mit dem Phenom™ Erlaubt ProtischplattenG2 Rasterelektronenmikroskop, die Fibermetric Anwendung Ihnen, genaue Größeninformationen aus den Mikro- und nano Faserproben ...

Rasterelektronenmikroskop (SEM)  20 - 17 000X | G2 pure Phenom-World
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Das reine Phenom G2 ist ein ideales Werkzeug für das Bilden des überganges vom Arbeiten mit einem hellen Mikroskop zum Laufen lassen eines Elektronenmikroskops. Das reine Phenom G2 wird mit den grundlegenden Bestandteilen für Sitzung Belichtung Notwendigkeiten ausgerüstet.
Das reine Phenom G2 liefert hochwertige Bilder, beim Verwenden der grundlegenden Funktionen und bietet die schnellste ...

Nanosurf
Rasterkraftmikroskop (AFM) für Integration in Mikroskope und Profilometer  LensAFM Nanosurf
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Nanosurf LensAFM — A leistungsfähiger Zusatz zu den optischen Mikroskopen oder zu den Straßenoberflächenmeßgeräten 3D

Das Nanosurf LensAFM ist ein Atomkraftmikroskop, das anstatt eines normalen objektiven Objektivs auf fast jedem optischen Mikroskop oder Straßenoberflächenmeßgerät benutzt werden kann. Es verlängert groß die Auflösung und die messenden Fähigkeiten dieser Instrumente. Das ...

Skyray Instrument
Rasterkraftmikroskop (AFM)  AFM, LFM Skyray Instrument
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Eigenschaften

Hochleistungs-

von der Entschließung Atom-einstufen
Große Mustergröße
Mit einem DSP nach innen für große Leistung
Realzeitbetriebssystem eingebettet
Schneller Ethernet-Anschluss mit Computer
Multifunktions

Atomkraft-Mikroskop (AFM)
Seitliche Kraft-Mikroskop (LFM)
Kraft-Analyse: IV Kurve, I-Z Kurve, Kraft-Kurve
On-line-Bild der ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  OS-AA Skyray Instrument
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Einleitungen
OS-AA SPM System bekannt für seine Multifunktionalität und volle Offenheit. OS-AA System ist nicht nur eine Plattform für unkonventionelle Experimente aber auch für weitere Entwicklungen als eine Routineermittelnanlage.

Eigenschaften

Milti-Funktion: STM, Flughandbuch, LFM, MFM, EFM, in Verbindung tretender Modus, klopfend, Phase
Enthaltene volle Digitalsteuerung ...

Rastersondenmikroskop (SPM)  AFM, MFM, EFM | AA5000 Skyray Instrument
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Einleitungen
Prüfspitzen-Mikroskop des Scannen-AA5000 ist das erneuerte Modell. Die Maßeinheit hat eine volle Deckung von SPM TECHNIK-STM, Flughandbuch, LFM leitendes Flughandbuch, MFM, EFM, Umgebungskontrolle SPM und Nano-Verarbeitung... Und die Maßeinheit ist entworfen, um Bilder der Atomskala zu 100 Mikrometer zur Verfügung zu stellen. Mit einem Digital-Signal-Prozessor (DSP) TMS320C642 innerhalb ...

Accurion GmbH
Rasterkraftmikroskop (AFM) Accurion GmbH
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Das Paket schließen die technische Integration eines Flughandbuchs in eine Belichtung ein, die von der Reihe nanofilm_ep3 ellipsometern ist.
Nutzen Sie die Bequemlichkeit der Belichtung ellipsometry, um Dünnfilme und Oberflächenstrukturen sichtbar zu machen und zoom dann in Nanometerdetails mit Abtastung-Prüfspitze Mikroskopie auf dem gleichen Punkt!
Die Integration wird durch eine intelligente ...

Cordouan Technologies
Transmissionselektronenmikroskop (TEM)  LVEM 5 Cordouan Technologies
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LVEM 5 ist ein Elektronenmikroskop im Getriebe, das hohe Entschließung des Bildes und die Kompaktheit eines optischen Mikroskops kombiniert. Es besteht aus 4 Elementen (Mikroskop, elektronische Maßeinheit, Vakuumpumpe und PC-Schnittstelle). Es bringt in 20 Minuten an und aller wiegt weniger als 60 Kilogramm. Dieses einzigartige TEM erfordert keine Dunkelkammer, Abkühlen oder teure jährliche Wartung. ...

rechercheFiltre-kwref www di De 2012-02-07-13